國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13452.2色漆和清漆漆膜厚度的測(cè)定,等效于標(biāo)準(zhǔn)Is028o8,本標(biāo)準(zhǔn)全面規(guī)范了涂膜的干膜、濕膜的各種厚度測(cè)定方法。

涂膜厚度測(cè)定方法1

是通過干膜質(zhì)量與干膜厚度之間的相應(yīng)關(guān)系來測(cè)量千膜厚度的方法。本方法適用于涂膜過軟,不能用儀器測(cè)量的涂膜。例如,空氣干燥的涂料處于固化早期的試板。本方法的目的不是用于涂膜實(shí)際厚度的測(cè)量,本方法要參照干膜質(zhì)量和厚度的關(guān)系圖表求出相應(yīng)的膜厚。

涂膜厚度測(cè)定方法2

是以千分卡法測(cè)量干膜厚度。用這種方法時(shí),涂膜必須硬到足以經(jīng)受住與千分尺卡頭緊密接觸時(shí)而無壓痕,度為士2µm。

涂膜厚度測(cè)定方法3

是以指不表法測(cè)量干膜厚度,指不表看來就是通常的千分表。.適用范圍和精.確度同方法2。

涂膜厚度測(cè)定方法4

是以顯微鏡法測(cè)量涂料的干膜厚度。這個(gè)方法又分A法和B法。A法是從涂漆樣板或被涂物體上切下_部分埋在樹脂中,用顯微鏡來測(cè)量,度為±2.5µm。它被推薦為仲裁方法及用于多變外形底材如噴丸金屬上的涂膜厚度的測(cè)量。B法則是使用專門的顯微鏡觀察測(cè)量從底材上取下的_小部分涂膜縱斷面的厚度。測(cè)量度為1µm。

涂膜厚度測(cè)定方法5

是非破壞性儀器測(cè)量法,即不破壞涂膜而測(cè)量涂通f度的方法。其一適用于磁性金屬底材。儀器的運(yùn)轉(zhuǎn)根據(jù)磁通量原理、渦流原理和磁引力脫離原理。

這里特別介紹磁吸力托列型測(cè)厚儀，這種測(cè)厚儀以克服*磁漆和磁性底材質(zhì)檢的磁引力所需要的力來測(cè)量涂膜厚度。該引力隨磁體與底材質(zhì)檢非磁性涂膜的厚度而改變，并且以鏈接在*磁體上的彈簧圈張力所施加的力來測(cè)量?，F(xiàn)在鐵路上普遍采用這種涂膜測(cè)厚儀,它的優(yōu)點(diǎn)是,攜帶方便,不需要電源,可直接在涂裝鋼結(jié)構(gòu)上測(cè)量涂膜厚度。

另有一種適用于非磁性金屬底材上測(cè)量涂膜厚度的方法,其原理是感應(yīng)渦流的大小隨儀器探頭線圈與金屬底材間涂膜厚度的大小而變化。儀器是通過感應(yīng)渦流的變化測(cè)出涂膜厚度。這種方法不能測(cè)量含金屬顏料的涂膜。對(duì)于高速列車采用的鋁合金車體的涂裝很有用處。

在這里還有一種非破壞性儀器測(cè)量方法:β射線反向散射法。它是使用具有放射性源的高度專門化儀器,主要用于移動(dòng)中的涂膜,如卷涂涂膜厚度的連續(xù)測(cè)定,但涂膜必須均勻。

涂膜厚度測(cè)定方法方法6

是濕膜厚度的測(cè)量,有輪規(guī)和梳規(guī)兩種測(cè)量儀。

輪規(guī)適用于實(shí)驗(yàn)室樣板或新涂.裝表面的濕膜厚度,測(cè)量性差,但能估計(jì)涂膜干燥后的大致素置。

梳規(guī)適用于現(xiàn)場(chǎng)涂裝操作時(shí)的濕膜厚的測(cè)量,測(cè)量值也只能2略重明業(yè)業(yè)言器:膜厚度之間沒有的相應(yīng)關(guān)系,對(duì)于不言器第不同的結(jié)果,但對(duì)于某一特定涂料而言,可通過濕願(yuàn)的測(cè)定估算出干膜的厚度

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