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工業(yè)顯微鏡有三種測量方法：
（一）軸切法
軸切法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記對通過測件軸心線并利用測量刀上的刻線進行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。測量刀是萬工顯的附件。其表面有一刻線，刻線至刃口的尺寸為0.3和0.9毫米兩種，測量時，把測量刀放在測量刀墊板上，刻線面通過測件的軸線，并使測刀的刃口和被測面緊緊接觸，用相應(yīng)的米字線去瞄準(zhǔn)，測量兩把測刀刻線間的距離，就間接測得被測件的測量值。為了避免測量中的計算，在中間垂直米字線的兩側(cè)刻有兩組共四條對稱分布的平行線，每組刻線對中心刻線的距離分別為0.9和2.7毫米，它正好是測刀的刃口到刻線間的距離0.3和0.9毫米的3倍。這樣用3倍物鏡瞄準(zhǔn)時，分劃板上的0.9和2.7毫米刻線正好壓住測刀上的0.3和0.9毫米刻線，這時測刀上的刃口正好被米字線的中間刻線所瞄準(zhǔn)。主要用于螺紋中徑測量。
（二）影像法
影像法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記，對影像法進行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。測量時，通常是先用(米字線)分劃板上的刻線瞄準(zhǔn)測件影像的邊緣，并在讀數(shù)顯微鏡上讀出數(shù)值，然后移動工作臺以同一條刻線瞄準(zhǔn)測件影像的另一邊，再作第二次讀數(shù)。兩次讀數(shù)的差，就是被測件的測量值。
（三）接觸法
接觸法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記對和緊靠測件測量點、線、面的萬工顯附件-光學(xué)測孔器的測頭連在一起的雙刻線進行瞄準(zhǔn)定位的測量方法。測量時將光學(xué)測孔器的測頭緊靠件(內(nèi)、外)表面。當(dāng)測量孔徑時，首先使測頭與測件內(nèi)孔接觸，取得zui大弦長后，使米字線中間刻線被光學(xué)測孔器的雙套線套在中間，并在讀數(shù)顯微鏡讀取一數(shù);然后改變測量方向，使測頭在另一側(cè)與測件接觸，同樣使米字線分劃板的中間刻線仍被光學(xué)測孔器的雙套線套在中間，在讀數(shù)顯微鏡上讀取另一數(shù)。兩次讀數(shù)的差，再加上測頭直徑的實際值，即為測件的內(nèi)尺寸，如減去測頭直徑的實際值，即為測件的外尺寸。
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