X熒光光譜儀的優(yōu)勢和劣勢

來源：深圳市億信豐科技有限公司 2017年11月17日 11:04

　　X熒光光譜儀適用于工廠來料及制程控制中的有害物質檢測，鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無損檢測，可對電子電氣設備，玩具指令中的有害物質進行定性定量分析。

　　X熒光光譜儀優(yōu)勢:

　　a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

　　c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。

　　d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

　　e) 分析精密度高。

　　f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

　　X熒光光譜儀劣勢：

　　a)難于作分析，故定量分析需要標樣。

　　b)對輕元素檢測的靈敏度要低一些。

　　c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

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