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芯片級FT-IR光譜儀開啟智能應(yīng)用新時代

來源:先鋒科技(香港)股份有限公司   2018年05月14日 14:23  

近紅外光譜已經(jīng)廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)、農(nóng)業(yè)、制藥以及食品安全等領(lǐng)域的定性及定量物質(zhì)分析。然而近紅外光譜儀一直以來都因為體積大、價格高等問題限制了其在消費級產(chǎn)品中的應(yīng)用。如今隨著MEMS和ASIC技術(shù)的發(fā)展,Si-Ware公司推出了世界上zui小的芯片級傅里葉紅外光譜儀NeoSpectra Micro。這一突破不僅將紅外光譜儀的體積縮小到了指甲蓋大小的級別,也將產(chǎn)品價格降到了消費級產(chǎn)品可以接受的區(qū)間。NeoSpectra Micro的創(chuàng)新設(shè)計也必將在智能家居、智慧農(nóng)業(yè)、可穿戴設(shè)備、健康監(jiān)測等領(lǐng)域革命性的發(fā)展。

 

那什么是傅里葉變換紅外光譜呢?

近紅外是介于可見光和中紅外之間的電磁輻射波,波長范圍0.76~2.5μm。每種物質(zhì)分子由于其組成和結(jié)構(gòu)的不同決定了其對近紅外光都有*的響應(yīng),即這一分子的紅外吸收光譜。傅里葉變換紅外光譜簡寫為FT-IR對干涉后的紅外光進(jìn)行傅里葉變換來測定紅外光譜的光譜分析方法。傅立葉變換紅光譜具有高檢測靈敏度、高測量精度、高分辨率、測量速度快、散光低以及波段寬等特點。

 

MEMS又是什么黑科技?

微電子機械系統(tǒng)(MEMS)是基于芯片的電子機械元件。依托于半導(dǎo)體微細(xì)加工技術(shù)發(fā)展而來,并融合了光刻、腐蝕、薄膜、LIGA、硅微加工、非硅微加工和精密機械加工等先進(jìn)的制作工藝。在過去的幾十年中,MEMS芯片為幾個行業(yè)帶來了革命性的變化,現(xiàn)在,MEMS芯片可以在眾多電子和光學(xué)設(shè)備中找到。

 

MEMS

 

FT-IR光譜儀是如何工作的?

傅立葉變換紅外光譜儀的核心是一個雙光束光學(xué)干涉儀名叫邁克耳孫干涉儀。 分束器將入射光束分成兩路:一束經(jīng)透射到達(dá)動鏡,另一束經(jīng)反射到達(dá)定鏡。兩束光分別經(jīng)定鏡和動鏡反射再回到分束器,動鏡以一恒定速度作直線運動,因而經(jīng)分束器分束后的兩束光形成光程差,產(chǎn)生干涉。干涉光在分束器會合后通過樣品池,通過樣品后含有樣品信息的干涉光到打探測器,然后通過傅里葉變換對信號進(jìn)行處理,zui終得到紅外吸收光譜圖。

 

FT-IR + MEMS = NeoSpectra Micro

在NeoSpectra Micro 微型傅里葉紅外光譜儀中,所有光學(xué)和機械組件都集成在單個MEMS芯片上,從而實現(xiàn)芯片級FT-IR功能。 單片集成通過使用Si-Ware公司專有的硅集成微光系統(tǒng)技術(shù)(SiMOST)平臺來實現(xiàn)。

 

NeoSpectro Micro

 

NeoSpectra Micro產(chǎn)品性能

波長范圍

PSD*>max PSD/10

1350-2500

nm

分辨率

波長1550nm,F(xiàn)WHM標(biāo)準(zhǔn)

16

nm

典型信噪比(rms)

2s 信號采集時間,波長2050nm

2000:01:00

-

溫度

運行

 -5 ~ 40

波長精度

波長1400nm,溫度<40℃

±1.5

nm

波長重復(fù)性

波長1400nm,吸光度水平 = 0.5 A.U.

±0.1

nm

芯片級FT-IR光譜儀NeoSpectra Micro的應(yīng)用領(lǐng)域

 

 

對于新產(chǎn)品開發(fā)我們可以提供的支持

為了支持用于更快速更便捷的基于NeoSpectra Micro 開發(fā)智能產(chǎn)品,我們特別推出了即插即用型的NeoSpectra Micro開發(fā)套件。

 

NeoSpectra Micro Development Kit

 

*在一塊PCB開發(fā)板上集成光學(xué)核心模塊

*光學(xué)核心模塊上面集成照明光源和自由光采集透鏡

*SPI通信接口及控制輸出

*可通過SPI直接與樹莓派微型電腦連接

*免費提供SpectroMOST軟件及SDK

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