奧林巴斯半導體檢測顯微鏡MX61L/ MX61, 300 mm/200 mm半導體檢查顯微鏡通過各種觀察方法--明視場法、暗視場法、微分干涉法（DIC）、熒光法、紅外線法和深紫外線法，的光學系統(tǒng)保證了的圖像分辨率和鮮明度。向您推薦的好的半導體檢測顯微鏡。

    前面板在對比度的決定上起重要作用的孔徑光闌（AS）的開閉調節(jié)，與物鏡的切換和觀察模式連動，用一個按鈕就可以操作。此外，用一個手指就可以調光的旋鈕也配置在前面板上，從而提高了檢查速度。物鏡和孔徑光闌（AS）的按鈕分別斜向配置，手不離開對焦手柄，只要輕動大拇指就可以操作。這個按鈕的傾斜式設計提高了手指尖的感知度，能夠防止錯誤操作。

                           [1] 照明強度旋鈕   [2] 物鏡倍率切換    [3] 孔徑光闌調節(jié)

     觀察姿勢迅速到位的傾斜鏡筒，為了適應視點而調整座椅的高度，或是以不合理的姿勢進行檢查的話會浪費時間，降低工作速度。但是，配備傾斜角度為0°～42°（可變高度為150 mm，SEMI S8對應）的傾斜鏡筒，可采取與檢查者體格無關的舒適觀察姿勢，甚至可以站立檢查。此外，這一款鏡筒拉長了從觀察中心軸到觀察者視點的距離，可以在較大的平臺上輕松操作。

      高靈敏度載物臺可以迅速決定位置，對應300 mm晶圓／17英寸面板的MX-SIC1412R2載物臺有較大的透射照明范圍（Y方向284 mm）。另外，內置離合器的載物臺手柄，可切換粗調和微調。在顯微鏡觀察的同時能自由地移動載物臺，快速完成檢查。

      物鏡是觀察樣品的照明和觀察的重要部件，奧林巴斯有應對多種多樣的觀察方法、長工作距離、紅外光及LCD檢查用的齊全的物鏡產品陣容可供選擇。