本頁面標(biāo)準(zhǔn)信息均來源于網(wǎng)絡(luò)收集，或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供，只作為參考使用，為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間，如需GB/T2423.22-2002標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T2423.22-2002具體測(cè)試方法，歡迎與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言，我們將為您相關(guān)的技術(shù)支持。

GB/T2423.22-2002標(biāo)準(zhǔn)介紹

GB/T2423.22-2002是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》的試驗(yàn)方法，溫度變化試驗(yàn)適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對(duì)試驗(yàn)樣品的影響。本試驗(yàn)不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對(duì)這種影響，應(yīng)使用高溫或低溫試驗(yàn)方法。目前該標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)廢止，現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)版本為GB/T 2423.22-2012。

▼GB/T2423.22-2002第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

GB/T2423.22-2002PDF資料

以上標(biāo)準(zhǔn)信息來自互聯(lián)網(wǎng)搜索整理，如需了解完整的GB/T2423.22-2002的信息或GB/T2423.22-2002標(biāo)準(zhǔn)解讀，歡迎詳詢。