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紅外線氣體分析儀是利用紅外線進(jìn)行氣體分析，基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同．剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
主要用于衛(wèi)生防疫部門(mén)、環(huán)境檢測(cè)站等部門(mén)，對(duì)賓館、商店、影劇院、舞廳、醫(yī)院、車(chē)廂、船艙等公共場(chǎng)合的各種氣體濃度的測(cè)定，也可用于實(shí)驗(yàn)室分析。
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面．強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為：i=i0e-kcl(比爾定律)
式中：i--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度；
i0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度；
k--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)；
c--待分析組分的氣體濃度；
l--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定；紅外光源已定，即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度i0一定；氣室長(zhǎng)度l一定。從比爾定律可以看出：通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減i，就可確定待分析組分的濃度c了。
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