波長色散型X射線熒光光譜儀(WD-XRF),是用晶體分光而后由探測器接收經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器作同步運動,不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度,可以據(jù)此進行定性和定量分析。
能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF),用X射線管產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進入半導體探測器,便可以據(jù)此進行定性分析和定量分析。
由于普通能量色散X熒光采用低功率X射線管,又采用濾光片扣除背景和干擾,其背景偏高,分辨率偏小,使得應用范圍受到限制,特別是在輕元素的分析受到限制。隨之X射線偏振器的誕生,產(chǎn)生了一款新型的能量色散X熒光光譜儀,既偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF,再加上SDD探測器的使用,不僅提高了(相對使用正比計數(shù)管和Si(PIN)探測器的儀器)的分辨率,免去Si(Li)探測器使用液氮冷卻的繁瑣和危險,了原來普通能量色散X熒光的輕元素檢出限高,分辨率差的缺陷,又使得(相對波長色散X熒光用戶)購買和使用X熒光儀器的成本大大減低,這使得偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF在分析領域的迅猛發(fā)展,越來越受到廣泛關注。
WD-XRF與ED-XRF的簡明比較
項目 | 偏振式能量色散X熒光 | 波長色散型X熒光 | 普通能量色散型X熒光 |
原理 | X熒光經(jīng)次級偏振靶使X射線產(chǎn)生偏振(提高信噪比)后,進入檢測器,經(jīng)電子學系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜 | X熒光經(jīng)晶體分光,在不同衍射角測量不同元素的特征線 | X熒光直接進入檢測器,經(jīng)電子學系統(tǒng)處理得到不同元素(不同能量)的X熒光能譜 |
結(jié)構(gòu) | 無掃描機構(gòu),只用一個檢測器和多道脈沖分析器,結(jié)構(gòu)簡單得多,無轉(zhuǎn)動件,可靠性高 | 為滿足全波段需要,配置多塊晶體,根據(jù)單道掃描和多道同時測定的需要,設置掃描機構(gòu)和若干固定通道 | 無掃描機構(gòu),只用一個檢測器和多道脈沖分析器,結(jié)構(gòu)簡單得多,無轉(zhuǎn)動件,可靠性高 |
X光管 | 功率低,不需冷卻水,X光管壽命長 | 高功率,要高容量冷卻系統(tǒng),X光管壽命短 | 功率低,不需冷卻水,X光管壽命長 |
檢測器 | SDD | 正比計數(shù)器,和λ、晶體、檢測器有關 | Si(pin) |
靈敏度 | ug/g級 | Ug/g級 | 輕基體ug/g級,其它10~102ug/g級 |
度 | 取決于標樣 | 取決于標樣 | 取決于標樣 |
精密度 | 好 | 很好 | 低濃度時不如WD |
系統(tǒng)穩(wěn)定性 | 好,工作曲線可長時間使用 | 需作周期性漂移校正,定期作工作曲線 | 好,工作曲線可長時間使用 |
方便性 | 好 | 一般 | 好 |
分析速度 | 快 | 單道慢,多道快 | 快 |
人員要求 | 一般 | 較高 | 一般 |
樣品表面 | 要求不高 | 要求平坦 | 要求不高 |
價格 | ¥60~100萬/臺 | ¥120~250萬/臺(其中單道¥120~180萬/臺) | ¥30~70萬/臺 |
測定元素范圍 | 11Na~92U | 5B~92U | 11Na~92U |
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