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X 射線熒光 (XRF) 光譜測定是一種無損式分析技術(shù)，可用于獲取不同類型材料的元素信息。 它已在許多行業(yè)和應(yīng)用領(lǐng)域中得到廣泛運(yùn)用，包括：水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保。 光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類：波長色散式系統(tǒng) (WDXRF) 和能量色散式系統(tǒng) (EDXRF)。 兩者之間的區(qū)別在于檢測系統(tǒng)。
在波長色散式光譜儀中，X 射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用波長色散式檢測系統(tǒng)來測量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長（而不是能量）來分離 X 射線，可用于識(shí)別每種不同元素發(fā)出的特征輻射。此類分析可以通過逐一（依次）測量不同波長的 X 射線強(qiáng)度來完成，或者在固定位置同時(shí)測量所有不同波長的 X 射線強(qiáng)度。?
而在能量色散式光譜儀中，X 射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用能量色散式探測器來測量樣品發(fā)出的熒光。此探測器可以測量樣品直接發(fā)出的特征輻射的不同能量。該探測器可以將樣品發(fā)出的輻射與樣品中存在的不同元素所發(fā)出的輻射分離開來。 這種分離就稱為分散。
EDXRF 光譜測定的優(yōu)勢：
WDXRF 光譜測定的優(yōu)勢?：
高分辨率，特別適用于輕元素
低探測限制，特別適用于輕元素
穩(wěn)定的分析
高處理量
而在能量色散式光譜儀中，X 射線光管用作直接照射樣品的光源，并且使用能量色散式探測器來測量樣品發(fā)出的熒光。此探測器可以測量樣品直接發(fā)出的特征輻射的不同能量。該探測器可以將樣品發(fā)出的輻射與樣品中存在的不同元素所發(fā)出的輻射分離開來。 這種分離就稱為分散。
EDXRF 光譜測定的優(yōu)勢：
小巧緊湊的儀器設(shè)計(jì)
幾乎不需要維護(hù)
無需使用水、壓縮空氣或氣體
耗電量低
更高的系統(tǒng)分辨率
可同時(shí)執(zhí)行元素分析
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