微分干涉顯微鏡因為其觀察特性呈現明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等，能很容易的進行正確的判斷，對于細節(jié)、缺陷檢測起到很大的作用。今天沃德普儀器給大家總結一下微分干涉顯微鏡的工作原理，希望能幫助您更好的了解微分干涉顯微鏡并應用。
    在金相顯微鏡檢驗方法中，微分干涉相襯法(DIC)是金相檢驗的一種強有力的工具，其特點主要為:
1、對金相樣品的制備要求降低，對于某些樣品，甚至只需拋光而不必腐蝕處理即可進行觀察。優(yōu)點是可以觀察到樣品表面的真實狀態(tài)，如將試樣拋光后在真空下發(fā)生馬氏體相變，不用腐蝕就可以觀察到馬氏體的相變浮凸。
2、所觀察到的表面具有明顯的凹凸感，呈浮雕狀，樣品各組成相間的相對層次關系都能顯示出來，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等都能作出正確的判斷，提高了金相檢驗準確性，同時也增加了各相間的反差。
3、用微分干涉相襯法觀察樣品，會看到明場下所看不到的許多細節(jié)，明場下難于判別的一些結構細節(jié)或缺陷，可通過微分干涉進行反差增強而容易判斷。
4、微分干涉相襯法基于傳統的正交偏光法，又巧妙地利用了在渥拉斯頓棱鏡基礎上改良的DIC 棱鏡和補色器(λ-片)等，使所觀察的樣品以光學干涉的方法染上豐富的色彩，從而可利用彩色膠卷或者數碼產品(CCD 攝像頭以及數碼相機)進行彩色金相顯微攝影。由于微分干涉相襯得效果與樣品細節(jié)的浮雕像以及色彩都是可以調節(jié)的，因而比正交偏光更為*。