吉時(shí)利2410測量電鏡中的被測件（如何去除積累電荷對測量的影響）

來源：深圳市金厚德電子科技有限公司 2019年07月11日 15:31

吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器，測量電鏡中的被測件（如何去除積累電荷對測量的影響）

吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器，測量電鏡中的被測件（如何去除積累電荷對測量的影響）

4200系統(tǒng)測量時(shí)可以直接進(jìn)行處理使得電荷放電至地點(diǎn)。
單臺(tái)源表做類似測量時(shí)，先加載0V電壓源測量I，將線路導(dǎo)通放電；延遲一段時(shí)間后，在加載需要的電壓進(jìn)行正常的測量。

此常見問題適用于：

Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter, 2400 系列 SMU

Product: 2400

常見問題ID : 473396

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