HORIBA已經成功將AFM和Raman這兩種技術耦合起來，兩者的功能模式在升級后的AFM-Raman系統(tǒng)中均能使用。

我們?yōu)槟峁┝?span style="font-family:微軟雅黑">高影響因子AFM/TERS/TEPL相關論文，您可點擊左下角“閱讀原文”查看論文列表，包括：

• 針尖增強拉曼光譜的納米化學成像

• 單堿基分辨率的TRES成像

• ......

您還可點擊下方二維碼，查看《Nature》論文原文——納米尺度下捕獲羧基氧化石墨烯的原位化學和電位成像。

升級AFM-Raman系統(tǒng)后，您將能夠全面應用拉曼、光致發(fā)光、原子力顯微鏡、針尖增強拉曼光譜(TERS)、針尖增強光致發(fā)光（TEPL）以及許多其他與光譜測量相關的原子力顯微鏡模式。這也為分子表征、一維和二維材料表征以及半導體納米結構和生物材料的表征提供了一種全新的技術。

無論您現(xiàn)在使用的是XploRA、LabRAM HR Evolution拉曼光譜儀，還是iHR光譜儀，都可以通過我們的AFM及其光學平臺Omegascope，將您的儀器升級到納米拉曼NanoRaman™。

升級后的HORIBA NanoRaman™系統(tǒng)，能夠在同一系統(tǒng)中全面應用拉曼、AFM、TERS、TEPL和許多其他相關技術，對于科學研究來說無疑是一大助力。您可以在HORIBA的NanoRaman™系統(tǒng)產品手冊中更深入地了解到關于AFM升級后的產品及其應用。（掃描下方二維碼下載產品手冊）

如果您購買過HORIBA拉曼光譜儀，您可掃描下方二維碼提交升級需求，我們會安排專業(yè)的工程師聯(lián)系您，為您解答系統(tǒng)升級的相關疑惑。

>>>>HORIBA科學儀器事業(yè)部

HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案，如：光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術，旗下Jobin Yvon光譜技術品牌創(chuàng)立于1819年，距今已有200年歷史。

如今，HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質量控制的，之后我們也將持續(xù)專注科研領域，致力于為用戶提供更好的服務。