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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
| 標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介 |
| 本部分規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。本部分適用于對(duì)GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：———標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備”； ———所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”； ———增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章； ———增加了“溫度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“溫度均勻度”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“溫度指示誤差”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“溫度過(guò)沖量”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———增加了“噪聲”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———刪除了“相對(duì)濕度”檢驗(yàn)項(xiàng)目； ———在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k＝２）的要求 ———增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章； ———修改了“溫度變化速率”的計(jì)算方法； ———測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)； ———刪除了“檢定過(guò)程中的處理”部分； ———附錄Ａ“測(cè)量記錄表格示例”更改為“檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”； ———刪除了附錄Ｂ “溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法”。 |
| 前言 |
| GB/T5170目前包含以下幾部分: ---GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 ---GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái) ---GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī) ---GB/T5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備 ---GB/T5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備 本部分是GB/T5170的第2部分。 本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化: ---標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備更改為電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備; ---所有用詞檢定更改為檢驗(yàn); ---增加了術(shù)語(yǔ)和定義一章; ---增加了溫度波動(dòng)度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度均勻度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度指示誤差檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度過(guò)沖量檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---增加了噪聲檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---刪除了相對(duì)濕度檢驗(yàn)項(xiàng)目; ---在檢驗(yàn)用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求; ---增加了檢驗(yàn)負(fù)載一章; ---修改了溫度變化速率的計(jì)算方法; ---測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù); ---刪除了檢定過(guò)程中的處理部分; ---附錄A測(cè)量記錄表格示例更改為檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇; ---刪除了附錄B 溫度波動(dòng)度、溫度均勻度檢定方法。 附錄A 為規(guī)范性附錄。 本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC8）提出并歸口。 本部分起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。 本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為: ---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985; ---GB/T5170.2-1996。 |
售后服務(wù)承諾:
用戶(hù)的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅(jiān)信一個(gè)好的企業(yè)賣(mài)出去的不僅僅是一臺(tái)好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。
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宏展儀器主營(yíng):
紫外光耐氣候試驗(yàn)箱;紫外線加速耐候試驗(yàn)機(jī);高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī);溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗(yàn)箱;高低溫沖擊試驗(yàn)箱; 蓄溫式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī);步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室;步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室;精密烘箱;鼓風(fēng)干燥箱;鹽水噴霧試驗(yàn)機(jī);模擬運(yùn)輸試驗(yàn)機(jī);跌落試驗(yàn)機(jī);蒸氣老化試驗(yàn)機(jī);快速溫變應(yīng)力篩選試驗(yàn)機(jī)[ESS];其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備
另可依客戶(hù)要求之尺寸制作試驗(yàn)室，滿足客戶(hù)的要求。
歡迎廣大客戶(hù)來(lái)電來(lái)函咨詢(xún)訂購(gòu)!
北京宏展環(huán)境科技有限公司
地址：北京市豐臺(tái)區(qū)和義東里6區(qū)12樓603室
： 67957820
傳真號(hào)碼：
： 李慧
公司： http://www.thermotron.com.cn/
http://www.hongzhan.com.hk
電子郵件：hui.li@hongzhan.com.hk
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