紅外光譜定量分析，相對于紫外-可見光譜，其應(yīng)用范圍是有限的。色散型的似器單次量噪聲大、分辨低、雜散光的影響、尖峰測量上的困難、儀器的非線性（包括化學(xué)非線性，譜帶強(qiáng)度范圍的非線性和干擾造成的非線性）等原因造成測量誤差較大，F(xiàn)TR儀器的使用及采用計算機(jī)處理數(shù)據(jù)等措施，使以上困難得以克服?；瘜W(xué)計量學(xué)中多組分同時定量分計方法的發(fā)展，為復(fù)雜混合物的定量分析提供了有力的工具，并在速度和準(zhǔn)確度方面均得到很大提高，其應(yīng)用領(lǐng)域也在不斷擴(kuò)大。

一、紅外光譜定量分析原理

進(jìn)行定量分析的基礎(chǔ)是吸收定律：

必須注意，透光率T和濃度c沒有正比關(guān)系，當(dāng)用T記錄的光譜進(jìn)行定量時，必須將T轉(zhuǎn)換為吸光度A后進(jìn)行計算。

測量譜帶吸光度的方法常用的是基線法，所謂基線法就是用基線來表示該分析物不存在時的背景吸收，并用它來代替記錄紙上的100％（透光率）坐標(biāo)。具體做法是:在吸收峰兩側(cè)選透光率高處a與b兩點作基點，過這兩點的切線稱為基線，通過峰頂c作橫坐標(biāo)的垂線，和0線交點為e，和切線交點為d（見圖1），則：

圖1 基線法

基線還有其他幾種畫法（見圖2），但每當(dāng)確定一種畫法后，在以后的測量中就不應(yīng)改變。

圖2 不同形狀吸收峰的基線畫法

用基線法測定吸光度受儀器操作條件的影響，因此從一種型號儀器獲得的數(shù)據(jù)，如摩爾吸光系數(shù)往往不能運用到另外一種型號的儀器上，另外，它不能反映出寬的和窄的譜帶之間的吸收差。更的測定可采用積分吸光度法，即吸光度為線性波數(shù)條件下所記錄的吸收曲線所包含的面積。這個方法是測量由某一振動模式所引起全部吸牧能量，它具有理論意義，而且給出更準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。峰面積的測量可以通過數(shù)學(xué)的、機(jī)械的或電子積分技術(shù)完成，在FTIR儀上只要給出積分范圍參數(shù)，即可算出其面積。

吸光度的可能誤差，見表。

表1 吸光度的可能誤差