----使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測(cè)試儀OFP2-100-Q 檢測(cè)光纖熔接點(diǎn)

熔接被認(rèn)為是銜接兩根光纖強(qiáng)且可靠的辦法，只因它具有低損耗和小反射率。如操作得當(dāng)，熔接接頭的損耗可低于0.1dB。但若操作不當(dāng)，卻可能拖累整個(gè)網(wǎng)絡(luò)。某中心向我們反映網(wǎng)絡(luò)慢，時(shí)常出現(xiàn)卡頓，我們使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測(cè)試儀幫客戶做了測(cè)試，測(cè)試給出的結(jié)果是在700米處有熔接點(diǎn)，但熔接點(diǎn)損耗過(guò)大引起了網(wǎng)絡(luò)慢，客戶在我們指導(dǎo)下重新做了熔接，網(wǎng)絡(luò)慢的問(wèn)題就解決了。接下來(lái)讓我們細(xì)心研究一下這些光纖熔接點(diǎn)的定位和故障診斷方面的注意事項(xiàng)。

如何找到光纖熔接頭

我們可以使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測(cè)試儀OFP2-100-Q CH來(lái)幫助我們解決問(wèn)題，質(zhì)量合格的光纖熔接頭不光損耗低而且沒(méi)有耦合器的反射，很可能不會(huì)被顯示出來(lái)。但假如我們想定位一個(gè)質(zhì)量合格的熔接接頭，該怎么辦呢？很簡(jiǎn)單，只需使用手動(dòng)OTDR選項(xiàng)對(duì)設(shè)置進(jìn)行一些簡(jiǎn)單調(diào)整即可。

首先，我們要在OFP2-100-Q CH上設(shè)置損耗閾值，以定位損耗低于0.1dB的事件。

OFP2-100-Q CH主動(dòng)設(shè)置的損耗門(mén)限為0.15dB，這意味著只會(huì)發(fā)現(xiàn)大于等于該水平的事件。但是，損耗門(mén)限可以由用戶自定義，范圍是0.01至1.50dB。

請(qǐng)注意，較小門(mén)限意味著測(cè)驗(yàn)儀需求進(jìn)行更多測(cè)量或運(yùn)用更寬脈寬，這可能會(huì)添加測(cè)試時(shí)間或跡線上的死區(qū)。低于0.15dB的損耗門(mén)限也可能導(dǎo)致OTDR發(fā)現(xiàn)由于光纖固有缺點(diǎn)導(dǎo)致的錯(cuò)誤事情。

更改均勻時(shí)刻也有助于定位熔接接頭。“均勻時(shí)刻”設(shè)置了丈量均勻次數(shù)以創(chuàng)立終軌道——較長(zhǎng)時(shí)刻可削減噪音，然后提醒更多細(xì)節(jié)，如非反射性接頭事件。

辨認(rèn)問(wèn)題

運(yùn)用高質(zhì)量的熔接機(jī)切開(kāi)，很簡(jiǎn)單完結(jié)正確熔接?？墒?，假如接頭和脹大部分沒(méi)有沿著熔纖盤(pán)的導(dǎo)線板正確地放置在熔纖盤(pán)內(nèi)，則可能會(huì)導(dǎo)致超出光纖的曲折半徑。

如要定位這種類(lèi)型的應(yīng)力，您可能需求測(cè)驗(yàn)兩種波長(zhǎng)：多模為850nm和1300nm；單模為1310nm和1550nm。在較長(zhǎng)波長(zhǎng)下，受應(yīng)力的光纖將顯示出顯著較高的損耗，而一般較長(zhǎng)波長(zhǎng)會(huì)顯示較低損耗。您可能還需求運(yùn)用福祿克Visifault來(lái)斷定問(wèn)題是否出現(xiàn)在斷裂或彎曲的光纖，而不是尾纖連接器，因?yàn)檐壍郎系氖?/span>件一般會(huì)出現(xiàn)在連接器附近。

雙向測(cè)驗(yàn)也很重要。假如尾纖與其正在熔接的光纖之間存在反向散射不匹配，則將在一個(gè)方向上看起來(lái)像增益(即負(fù)損耗)，在另一個(gè)方向上有過(guò)多損耗(即虛偽損耗)。假如從兩個(gè)方向進(jìn)行測(cè)驗(yàn)，并對(duì)損耗進(jìn)行均勻，則可取得實(shí)際損耗。

為了簡(jiǎn)化雙向測(cè)驗(yàn)，OFP2-100-Q CH內(nèi)置了一個(gè)“SmartLoop OTDR”幫手，在雙芯光纖鏈路的遠(yuǎn)端運(yùn)用一個(gè)環(huán)路，這樣您就可從一端進(jìn)行雙向測(cè)驗(yàn)。OFP2-100-Q CH還內(nèi)置有均勻功用，可將兩個(gè)丈量結(jié)果進(jìn)行均勻，然后提供精確的終損耗測(cè)試值。

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