R4 比色皿光譜測量系統(tǒng)淺析通用反射/透射光譜測量

來源：上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司 2020年05月09日 09:39

　　第一部分反射光譜測量

　　物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美的平整表面上的反射是鏡面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。

　　對于鏡面反射，一般使用反射光纖測量0度角入射，0度角反射的方式測量。而對于漫反射，則一般使用積分球測量。除此之外，鏡面反射還可以通過45度角入射，45度角反射衡量；漫反射也可以通過0度角入射，45度角反射衡量。具體視樣品及采用的測量標(biāo)準(zhǔn)而定。

　　紅色框是倒置式的鏡面反射光譜測量方式。由于這種方式可以保持樣品至反射光纖的距離和標(biāo)準(zhǔn)參比樣品至反射光纖的距離精確相等，因此，倒置光譜測量方式更加適合于需要精確測量光譜反射率的場合。

　　綠色框是倒置的積分球反射光譜測量方式，可以采用8度角照射，90度角接受，也可以采用90度角照射，8度角接受的方式。這種方式適合于毛糙表面或絨面樣品的反射率測量。

　　第二部分透射光譜測量

　　透射與反射的情況相似，對完美平整樣品和粗糙樣品的透射光譜測量方式是不同的。對于完美的平整樣品，采用0度角入射、180度角接受即可；對于粗糙樣品，則需要采用0度角入射、積分球接收的形式。

　　另外，固態(tài)樣品和液態(tài)樣品的透過率測量也不同。固態(tài)樣品，如薄膜、濾光片等，通常采用R2透過光譜測量支架測量，而液體則使用標(biāo)準(zhǔn)比色皿承載，在R4這樣的比色皿光譜測量支架中測量。

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