各種粒度測試方法的優(yōu)勢和不足（一）

來源：北京來亨科學(xué)儀器有限公司 2020年08月25日 11:12

(1) 激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測量和干法測量。缺點(diǎn)：分辨力較低。

(2) 動態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測量大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：不能分析細(xì)顆粒（如 <2μm），儀器成本較高。

(3) 靜態(tài)圖像法：優(yōu)點(diǎn)：成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長徑比等形貌分析。缺點(diǎn)：操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細(xì)顆粒（如 <2μm）。

(4) 電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：能分析納米顆粒和超細(xì)顆粒粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn)：代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

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