顆粒測(cè)試基本知識(shí)-常見(jiàn)粒度測(cè)試方法

來(lái)源：北京來(lái)亨科學(xué)儀器有限公司 2020年08月25日 11:16

顆粒測(cè)試基本知識(shí)--頻率分布和累積分布的作用

頻率分布又叫區(qū)間分布或微分分布，指兩個(gè)粒徑之間顆粒占總量的百分比。累積分布又叫積分分布，指小于（或大于）某粒徑的顆粒占總量百分?jǐn)?shù)，它是由頻率分布累加得到的。

常用的粒度測(cè)試方法有:

1. 激光散射法（毫米、微米、納米）

2. 動(dòng)態(tài)光散射法（納米）

3. 動(dòng)態(tài)和靜態(tài)顯微鏡圖像法（微米、粒度和粒形）

4. 重力和離心沉降法（微米 / 納米）

5. 庫(kù)爾特（電阻）法（微米）

6. 電鏡法（微米、納米）

7. 超聲波法（微米）

8. 透氣法（微米平均粒度）

9. 篩分法（大于 38 微米）等。

目前是激光散射法、動(dòng)態(tài)光散射法和顯微圖像法。

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