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納米顆粒分析儀廣泛應(yīng)用于各類(lèi)研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。該儀器基于傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡，搭配激光光源，可以檢視0.3 ml樣品中的納米級(jí)顆粒，并采用了近乎的黑色背景，可使布朗運(yùn)動(dòng)下的粒子觀測(cè)和分析更為方便。
納米顆粒軌跡分析圖像軟件套裝可使用戶對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行自動(dòng)地軌跡和尺寸分析，結(jié)果可顯示為分布圖或數(shù)據(jù)表的形式，既可提供直接實(shí)時(shí)的納米顆粒檢視，也可給出全面的顆粒粒徑分布分析。除此之外，還可以拍攝視頻供進(jìn)一步研究參考。
納米顆粒分析儀性能特點(diǎn)：
先進(jìn)的測(cè)試原理 該儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理，其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性；
高靈敏度與信噪比 探測(cè)器采用HAMAMATSU光電倍增管(PMT)，其具有*的靈敏度和信噪比，從而保證了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度；
超高速數(shù)據(jù)采集 核心部件采用數(shù)字相關(guān)器，它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光散射信息，為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng) 采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng) 采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)±0.2℃，使樣品在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
應(yīng)用領(lǐng)域：
該儀器可被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳納米材料、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和CMP等各種納米級(jí)、亞微米級(jí)粒子粒徑檢測(cè)，以及膠體、乳液等的Zeta電位分析。
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