目前正在努力進一步提高光電效率。除了電池的設計,微調原材料的質量(單晶硅或多晶硅)是實現更高的功率和更低的成本的主要途徑。FTIR光譜是高靈敏度硅分析的理想工具,布魯克支持工業(yè)和研究團體,以確保和提高原材料質量和純度。
對于硅生產商來說,碳、氧和“淺雜質”(如B、P……)的測定是基本的。布魯克CryoSAS是這個復雜的太陽能級或電子級硅低溫質量控制的全自動工業(yè)標準。它在ppb/ppt范圍內的靈敏度令人印象深刻,簡單的工作流程和無制冷劑低溫技術大大減少了人員和運行成本。使用布魯克VERTEX80光譜儀和的光致發(fā)光模塊及自動無制冷劑低溫恒溫器,對于淺雜質,可以通過低溫近紅外光致發(fā)光(PL)技術甚至可實現更好的檢測靈敏度(<1ppt)。
對于晶圓和太陽能電池制造商,來自布魯克的SiBrickScan (SBS)能夠以高靈敏度和高精度測定全硅晶棒中的氧梯度。這一旁線系統(tǒng)為硅結晶過程的控制提供了很有價值的信息,通過早期無需切片制備樣品而進行廢料鑒別,節(jié)省了資金和能源。
后但同樣重要的是,對于太陽能熱涂層的表征,布魯克提供了基于FTIR(例如VERTEX 或 INVENIO)的輻射率測定解決方案,輻射率是太陽輻射轉化為熱量的效率的直接度量。
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