2N—5000N拉伸原位測試儀

來源：武漢賽斯特精密儀器有限公司 2021年04月08日 14:33

微觀力學原位測試儀

拉伸原位測試儀（2N—5000N）

可集成在多種成像設備下（SEM、金相顯微鏡等），對試樣施加載荷作用，在納米尺度下全程動態(tài)監(jiān)測材料的微觀變形、損傷過程。為深入研究各類材料及其制品的微觀力學行為和損傷機理提供理論依據(jù)。

原位測試儀可在SEM真空腔內(nèi)對材料拉伸/壓縮、彎曲、壓痕/劃痕等試驗，在研究材料的機械性能領域扮演著重要的角色。借助于SEM超景深、大視野、高分辨率的成像能力，可深度分析材料微觀損傷機制，實時監(jiān)測材料微觀變形損傷過程，在材料科學研究領域具有*的使用價值。

在計算機軟件控制下，可顯示試驗力-時間曲線、試驗力、試驗力峰值、具有明顯屈服特征材料的屈服力，實驗數(shù)據(jù)方便直觀。

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