各種粒度測試方法的優(yōu)缺點

來源：上海萊誼納米科技有限公司 2021年05月11日 18:37

　　(1)篩分法。優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于40um的樣品。缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大。

　　(2)顯微鏡(圖像)法。優(yōu)點：簡單、直觀，可進行形貌分析，適合分布窄(zui大和zui小粒徑的比值小于10：1)的樣品。缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。

　　(3)沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。優(yōu)點：操作漸變，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較廣。缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣。

　　(4)電阻法。優(yōu)點：操作漸變可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。缺點：不適合測量小于0.1um的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。

　　(5)激光法。優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍廣，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高，分辨力低。

　　(6)電子顯微鏡法。優(yōu)點：適合測試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進行形貌和結構分析，缺點：樣品少，代表性差，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴。

　　(7)光阻法。優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。缺點：不適用粒徑小于1umde樣品，進行系統(tǒng)比較講究，僅適合對塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量，對一般粉體用的不多。

　　(8)透氣法。優(yōu)點：儀器價格低。不用對樣品進行分散，可測測性材料粉體。缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布；不能測小于5um細粉。

　　(9)X射線小角散射法。用于納米級顆粒的粒度測量。

　　(10)光子相關譜法(動態(tài)光散射法)。用于納米級顆粒的粒度測量。

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