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單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
本產(chǎn)品根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得很廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀是由低功率X射線管發(fā)射出的多波長(zhǎng)X熒光，經(jīng)個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲聚焦，并將具有合適波長(zhǎng)可以激發(fā)硅元素K層電子的單色X射線照射在裝入樣品盒中的被測(cè)樣品上形成小光斑。
單色初級(jí)束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級(jí)特性熒光X射線，通過(guò)第二個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件僅收集由硅元素激發(fā)出的波長(zhǎng)為0.713nm的KαX射線熒光，并被一合適的探測(cè)器測(cè)量，然后用校準(zhǔn)方程將其轉(zhuǎn)換成被測(cè)樣品中的硅含量。
單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀適用于檢測(cè)汽油、柴油中的硅含量，無(wú)需復(fù)雜的預(yù)處理過(guò)程，可直接進(jìn)樣檢測(cè)，本產(chǎn)品可為石化企業(yè)提供準(zhǔn)確和可靠的分析結(jié)果。
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