XRF歸納之X射線熒光光譜分析概述
 

　　
 

　　X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence，XRF)是固體物質成分分析的常規(guī)檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。
 

　　XRF測試作為常用測試之一，但仍有許多同學不太了解，本篇文章由科學指南針科研服務平臺給大家介紹X射線熒光光譜分析概述。
 

　　X射線熒光光譜分析(XRayFluorescence，XRF)是固體物質成分分析的常規(guī)檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術和分光晶體研制發(fā)展所限，早期的X射線熒光光譜儀檢測范圍較窄，靈敏度較差。隨著測角儀、計數(shù)器、光譜室溫度穩(wěn)定等新技術的進步，使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的測量精密度與準確度有了較大改善。特別是人工合成多層膜晶體的開發(fā)應用使輕元素鈹、硼、碳、氮、氧等的X射線熒光光譜分析分析成為可能，這類晶體是由低原子序數(shù)和高原子序數(shù)物質以納米級厚度交替疊積而成，其層間厚度可以人工控制，如OVO-B晶體的間距為20納米，適用于硼和鈹?shù)姆治觥Ｓ捎赬射線管的功率增大，鈹窗減薄，X射線管與樣品的距離縮短，為輕元素分析配備了超粗準直器，降低了元素的檢出限，技術發(fā)展使現(xiàn)代X射線熒光光譜儀的檢測范圍可達到4Be(鈹)～92U(鈾)，對元素的檢測范圍為10-6%～100%。
 

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