工業(yè)中材料使用的規(guī)范越來越具體，但對現(xiàn)場各種PMI試驗的需求也在穩(wěn)步增加。手持XRF、OES和手持LIBS分析儀都是用于快速確定、準(zhǔn)確和可靠分析的常用技術(shù)，每一種設(shè)備都有其*的優(yōu)勢，為用戶提供材料成分的定性和定量分析，廣泛的應(yīng)用于以下幾個方面：

1、來料檢驗：確保產(chǎn)品或部件是合規(guī)的合金

2、制造：確保焊接部件及其填充金屬是合規(guī)的合金，滿足規(guī)定的材料要求

3、庫房管理：分類和識別未知或錯誤標(biāo)記的材料，確保正確的材料用于工藝

4、PMI過程中應(yīng)用：用于驗證當(dāng)前材料是否符合要求規(guī)范

在進(jìn)行材料分析時，了解每種設(shè)備的局限性和差異至關(guān)重要。手持XRF、OES和手持LIBS分析儀都可應(yīng)用于石油化工、煉油、發(fā)電、制造、制藥、核能和航空航天的生產(chǎn)和資產(chǎn)完整性管理項目中，這些驗證手段有助于消除有害材料的混入、識別未知材料、提高產(chǎn)品質(zhì)量，并有助于防止工傷。在確定待分析材料時，每個驗證手段都有不同的要求，每種材料都有不同的要求，因此了解每種設(shè)備將有助于確定使用哪種技術(shù)來驗證材料。

X射線熒光（XRF）是常用的無損檢測（NDT）方法，為用戶提供便攜無損的分析手段，可提供快速、準(zhǔn)確的分析結(jié)果。手持式XRF分析儀使用X射線管將X射線束發(fā)射到樣品中，激發(fā)電子并將其從內(nèi)層移開，內(nèi)層的空位被外層的電子所取代，當(dāng)電子填充空穴發(fā)生躍遷時，會以二次X射線的形式釋放能量，這種二次能量的釋放被稱為熒光。每一個元素都會釋放自己*的能量特征譜線，通過測量樣品釋放的能量特征譜線，可以確定存在哪些元素，這一過程進(jìn)行了定性分析，然后，通過測量能量的強(qiáng)度并根據(jù)校正因子進(jìn)行計算，就可以測量樣品中每種元素的含量，這一過程進(jìn)行了定量分析。

光學(xué)發(fā)射光譜（OES）是一種光學(xué)方法，可用于檢測幾乎所有類型的元素，包括不銹鋼、鎳和碳鋼等不同基體中的碳和輕元素。OES技術(shù)通過測量碳元素來分級材料，識別低碳或高碳不銹鋼等合金

雖然OES被認(rèn)為是一種便攜的技術(shù)，但最好將其歸類為可移動技術(shù)。OES儀器的重量和尺寸因制造商而異，一般重量可達(dá)45-60磅（20-27kg）以上，并且需要一個氬氣罐，根據(jù)所用罐的尺寸，該罐的重量約為20磅（9kg）。儀器和氬氣罐通常用手推車運輸，協(xié)助儀器移動。由于現(xiàn)場移動OES的重量和尺寸，在高空作業(yè)區(qū)域作業(yè)可能需要機(jī)械協(xié)助，以便將OES儀器提升至較高平臺。此外，當(dāng)使用OES進(jìn)行分析時，每個要分析的樣品都需要使用研磨機(jī)進(jìn)行樣品制備，該研磨機(jī)使用鋯鋁氧化物砂盤來制備表面。樣品制備是任何OES分析中的一個關(guān)鍵步驟，如果樣品制備不當(dāng)，會產(chǎn)生不理想和不準(zhǔn)確的結(jié)果。  

在OES技術(shù)中，原子也被激發(fā)，但是激發(fā)能量來自于樣品和儀器電極之間形成的火花。與利用X射線管照射樣品的XRF不同，OES使用火花的能量，使樣品中的電子發(fā)射光，并將其轉(zhuǎn)化為光譜圖。每一種元素都產(chǎn)生一種特征波長的光，同時測量光譜中該光的峰值強(qiáng)度，OES分析儀便可以對材料成分進(jìn)行定性和定量分析。盡管OES被認(rèn)為是一種無損檢測方法，但樣品的制備需要使用機(jī)械砂輪裝置，火花也會在樣品表面留下一個小的燒傷，分析后需要清除。

上述準(zhǔn)確可行的技術(shù)均可以在現(xiàn)場實現(xiàn)化學(xué)分析。XRF、OES技術(shù)為用戶提供了一個便攜式選項來驗證或分級材料。了解每種技術(shù)的差異和局限性將有助于用戶選擇儀器，進(jìn)一步滿足所分析材料的特定要求。（轉(zhuǎn)載）