無論是國家標準、行業(yè)標準，還是國外標準（VDA19、ISO16232），都有著各自的清潔度檢測方法。因此，盡可能要求顧客提供明確的標準，根據顧客要求，有針對性的選擇相應的測量方法
 
以下是各標準所規(guī)定方法的通則，用于企業(yè)自主制定清潔度檢測文件的思路
 
一、收集方法
 
1、 晃動法
---------簡單封閉表面所含顆粒，通過向被測零件或元件中注入適當種類和適量體積的試驗液，并將開口密封好，晃動零件或元件使顆粒從受控表面上脫離并懸浮在試驗液中?；蝿雍髴⒓磁懦鏊性跍y試中使用的試驗液，并將其收集以便分析。
--------需要控制的主要過程變量有:試驗液及其相關性能，試驗液的體積和溫度，晃動的類型和周期，包括終點樣本在內的樣本收集次數(shù)，收集到的用于分析的試驗液體積。
-------應考慮零件或元件的尺寸和質量，需用的吊具或卡具，以及為便于顆粒收集而需要的任何輔助設備
 
2、壓力沖洗法
-------通過向安放在適當?shù)囊后w收集設備上的零件或元件的受控表面定向噴射試驗液，使裸 露表面上或可接觸表面上的顆粒剝離。沖洗后所有在測試中使用的試驗液應立即收集起來以便分析。
-------需要控制的主要過程變量有:試驗液及其相關性能，試驗液的壓力和流量，試驗液的體積和溫度，零件或元件的沖洗順序，包括終點樣本在內的樣本收集次數(shù)，收集到的用于分析的試驗液體積。
-------應考慮受控表面的總體可沖洗性，零件或元件的尺寸和質量，需用的吊具和卡具，以及為便于顆粒收集而需要的任何輔助設備。
 
3、超聲 波振動法
------通過將零件或元件浸沒在試驗液中并施加超聲 波振動，使超聲 波振動可達到的表面上的顆粒剝離。零件或元件一旦從超聲 波清洗槽中取出，所有在測試中使用的試驗液應立即收集起來以便分析
------需要控制的主要過程變量有:試驗液及其相關性能，試驗液的體積和溫度，設定的設備功率，在超聲 波中的暴露時間，包括終點樣本在內的樣本收集次數(shù)，收集到的用于分析的試驗液體積，從零件或元件表面剝離可分離顆粒的效果和從超聲 波清洗槽中收集用于分析的樣本效果。
--------應考慮零件或元件的尺寸和質量，它們和超聲 波清洗槽的容量有關。同時還應考慮零件或元件的形狀，這些因素都會影響超聲 波清洗槽的清洗效果。
 
4、最終使用模擬法
------不易接觸的內表面上的顆粒，通過將零件或元件安裝在模擬其最終使用的試驗臺上進行收集試驗液通過試驗臺進行循環(huán)的同時，使零件或元件動作。模擬循環(huán)一旦結束，應立即收集用于分析的具有代表性的試驗液樣本。
-------產品試驗臺可用來進行最終使用模擬試驗當產品試驗臺被用于最終凈化過程(例如:在管路中安裝凈化過濾器)時，供貨商和買方可以協(xié)商，由零件或元件下游某一合適取樣點收集到的樣本來分析確定零件或元件的清潔度
--------需要控制的主要過程變量有:試驗液及其相關性能，試驗液的體積和溫度，模擬循環(huán)過程，循環(huán)周期，收集樣本的大小和數(shù)量，以及控制先前試驗遺 留物影響的程序
-------應慎重選擇模擬循環(huán)(例如:伴隨著零件或元件的跑合會產生顆粒的循環(huán))及確定液壓系統(tǒng)中來自其他零件或元件的潛在交叉污染源，尤其當元件安裝到試驗臺上時。盡量減少顆粒的生成量是非常重要的，因為生成的顆粒將引起后續(xù)顆粒分析結果的變化。
 
 
二、分析方法
 
1、稱重法
獲取包含從受控表面收集到的所有顆粒的樣本。通常在控制條件下，通過濾膜過濾將顆粒從試驗液中分離出來，稱取過濾后沉積在濾膜表面上物質的質量來確定顆粒濃度(單位面積質量、單位體積質量、單位零件質量或單位元件質量)。
 
2、顆粒尺寸法
獲取包含從受控表面收集到的所有顆粒的樣本。通常在控制條件下，通過濾膜過濾將顆粒從試驗液中分離出來，使用光學顯微鏡或光學圖像分析儀、掃描電子顯微鏡或其他圖像分析儀器來檢查濾膜上殘留的顆粒以確定顆粒尺寸。
 
3、化學成分法
獲取包含從受控表面收集到的所有顆粒的樣本通常在控制條件下，通過濾膜過濾將顆粒從試驗液中分離出來，使用適當?shù)膬x器，如裝有X射線熒光能譜儀的掃描電子顯微鏡，來檢查膜上殘留的顆粒以確定化學成分。
 
4、顆粒尺寸分布法
獲取具有代表性的顆粒樣本。通過適當?shù)挠嫈?shù)方法確定顆粒的尺寸和數(shù)量，如采用遮光傳感器的光學自動顆粒計數(shù)器、光學顯微鏡或光學圖像分析儀.