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想要高效完成I-V特性測(cè)試，快來(lái)看看這個(gè)測(cè)試方案吧
在各種應(yīng)用的電流相對(duì)于電壓關(guān)系 (IV) 測(cè)量中，吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器可以提供高效智能的解決方案。
圖：由吉時(shí)利2400系列源表組成的I-V 測(cè)試系統(tǒng)
吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器把源功能和測(cè)量功能緊密整合到一臺(tái)儀器中，提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載，實(shí)用性強(qiáng)。
吉時(shí)利2400圖形化系列SMU儀器采用用戶熟悉的圖形界面，操作簡(jiǎn)便。比如基于圖標(biāo)的菜單結(jié)構(gòu)，不管用戶經(jīng)驗(yàn)是否豐富，使用起來(lái)都非常簡(jiǎn)便。
應(yīng)用舉例
01
功率半導(dǎo)體的 I-V 檢定
圖：使用2450源表測(cè)試得出的I-V曲線
在碳化硅（SiC）和 氮化鎵（GaN）半導(dǎo)體設(shè)備開(kāi)發(fā)的各階段， I-V 檢定起著重要的作用。首先，測(cè)試材料以確定適用性。再者，金氧半場(chǎng)效晶體管（MOSFET）等設(shè)備一經(jīng)制造，必須在進(jìn)行擊穿電壓、泄漏電流和斷開(kāi)狀態(tài)電阻測(cè)試后才可將其安裝到電路板上。
覆蓋范圍廣，最高可達(dá) 1100V / 1A DC 20W
10 fA 測(cè)量分辨率
SCPI 和 TSP® 腳本編程模式
與 KickStart 軟件結(jié)合使用
02
光電池 I-V 檢定
圖：光電池測(cè)試
Keithley 2450型或2460型SourceMeter SMU儀器，能在提供電流和電壓的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量， 可以輕松生成太陽(yáng)能電池和電池板的I-V檢定。
0.012％ 基本測(cè)量精度，具有 6? 位分辨率
全新 20mV 和 10nA 源/測(cè)量范圍提高了靈敏度
覆蓋范圍廣，最高可達(dá) 105V，7A DC/7A 脈沖，100W
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