德國confovis WAFERinspect測量系統(tǒng)選購指南
歐洲采購德國confovis WAFERinspect AOIAOI測量系統(tǒng)
公司簡介
onfovis 是工業(yè)應用光學 3D 測量系統(tǒng)的系統(tǒng)供應商。自 2009 年以來,該公司一直專注于面向客戶和應用的解決方案。Confovis獲得的“結構照明顯微鏡”共聚焦顯微鏡為工業(yè)應用的快速和納米級表面分析開辟了新的前景。使用最新一代的測量系統(tǒng), Confovis 在單個系統(tǒng)中結合了共焦測量技術和焦距變化。通過這樣做,測量設備專家為汽車和航空航天、工具制造和機械工程、冶金、半導體和光學行業(yè)的行業(yè)客戶提供了一種節(jié)省時間和成本的解決方案,用于大多數(shù)不同的測量任務,例如微輪廓測量和粗糙度測量溯源到認證標準,按照有效的規(guī)范
產(chǎn)品簡介
快速共焦 3D 測量– 不受材料影響
2D 測量:關鍵尺寸:線/空間、支柱、覆蓋(Halcon、Cognex-Software)
高度自動化:從晶圓處理到結果
通過SECS/GEM向主機提供詳細信息
通過精細對準、KLARFF 文件和簡單的操作模式進行目視檢查
產(chǎn)品型號
歐洲采購德國confovis WAFERinspect 表面測量系統(tǒng)
歐洲采購德國confovis WAFERinspect AOIAOI測量系統(tǒng)
相關產(chǎn)品
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