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這里所謂的“性能特點”，是激光粒度儀相對于其他原理的粒度測量儀器而言的。除激光粒度儀外，當前市面上主流的粒度儀還有：（1）顆粒圖像儀，分為動態(tài)和靜態(tài)兩類；（2）電阻法（Electricsensingzone或Electricresistance）顆粒計數(shù)器；（3）沉降法粒度儀，按照沉降力的來源分為重力沉降和離心沉降兩類；按照沉降速度的測量方法分為光透沉降、X-線沉降、沉降管和沉降天平等多種；（4）動態(tài)光散射（Dynamiclightscattering）粒度儀。鑒于動態(tài)光散射儀器只測量納米和亞微米顆粒，與激光粒度儀的測量范圍重疊部分很少，不應放在一起比較。本文討論的激光粒度儀性能特點是相較于以上前3類儀器而言的。
動態(tài)范圍大
所謂動態(tài)范圍是指儀器在一個量程內(nèi)能測量的最大粒徑與最小粒徑之比。現(xiàn)在大部分品牌的激光粒度儀都無需調(diào)整量程（通過更換傅里葉透鏡或調(diào)節(jié)測量池位置實現(xiàn)），所以儀器的測量范圍就是儀器的動態(tài)范圍。
激光粒度儀的動態(tài)范圍是由儀器同時能測量的最大散射角和最小散射角決定的。從原理分析，如果只測量前向散射光，測量下限能達到0.3µm左右；如果光的探測角度范圍擴展到后向，那么測量下限可達到0.1µm。測量上限則由儀器的等效焦距和探測器最小單元的扇形平均半徑?jīng)Q定（參考文獻：胡華,張福根等.激光粒度儀的測量上限.光學學報,2018,38(4):0429001）。大多數(shù)品牌都能輕松測到1000µm?？梢娂す饬６葍x的動態(tài)范圍能達到3300:1（無后向散射）或10000:1。
需要說明的是，大多激光粒度儀廠商都把自己產(chǎn)品的測量下限宣傳得很小，例如0.01微米（即10納米），而把上限說得很大。有些是缺乏科學基礎的。用戶采信時要謹慎。
不管怎樣，其他3類粒度儀的動態(tài)范圍都在100左右或者更小。可見激光粒度儀的動態(tài)范圍遠大于其他原理的儀器，這給用戶使用帶來極大的方便。
測量速度快
激光粒度儀的測量過程主要包括背景測量、投樣和攪拌循環(huán)、散射光測量、數(shù)據(jù)反演計算以及報告顯示等。整個過程大約需要1分鐘左右。當然這里不包括前期的樣品制備過程。對難分散樣品，在投入儀器的分散槽之前，需用外置的高功率超聲分散器進行預處理，這個過程從數(shù)秒到幾分鐘，視樣品不同而異。不過難分散樣品的預分散對任何儀器都是必須要做的。
預處理后的測量時間，電阻法儀器也很快，整個過程也在1分鐘左右。沉降法儀器每次測量都要等整個沉降過程完成，同時為了滿足斯托克斯定律要求的層流條件，沉降速度還不能太快。這樣就造成測量過程需要30分鐘甚至更長。靜態(tài)圖像法需要一幅一幅地處理圖像，還需要人工干預，測一個樣需要30分鐘或更長。動態(tài)圖像儀需要數(shù)分鐘。
綜上所述，激光粒度儀的測量速度是所有現(xiàn)存的粒度儀中最快的儀器之一。
重復性和再現(xiàn)性好
重復性是指將制備好的顆粒樣品輸送到測量池后，讓儀器進行多次測量，不同次測量結(jié)果之間的一致性。重復性又稱“測量精度”。重復性通常用多次測量結(jié)果的相對均方差或標準差來表示。
有必要提醒的是，同一臺儀器，量程的中段往往測量精度高，兩端的測量精度低。在不加說明的情況下，都是指量程中段的精度。另外對粒度測量，重復性還跟樣品的特性有關。首先是粒度分布寬度的影響。寬度越寬，重復性越低。其次跟樣品在介質(zhì)中的分散難易有關，容易團聚的樣品，重復性低。
激光粒度儀比較典型的精度指標是：對單分散（即理論上認為所有顆粒有相同的粒徑）樣品，D50重復性誤差小于0.5%，甚至0.2%。對一般的多分散樣品（最大最小顆粒之比10到20倍），國際標準ISO13320（2009版）的要求是：”D50重復誤差小于3%，D10和D90重復誤差小于5%。如果粒徑小于10微米，相對誤差可以翻倍”。現(xiàn)行的商品化激光粒度儀，重復性誤差大多遠小于國際標準的要求。
再現(xiàn)性是指不同的人對同一樣品進行測量（有時為了簡便，也有同一個操作者，對同一樣品多次取樣再測量），得到的結(jié)果之間的一致性。顯然，重復性是再現(xiàn)性的基礎。由于受取樣的代表性、樣品制備方法（比如分散，移樣的手法等）的差異的影響，再現(xiàn)性誤差總是大于重復性誤差。不過由于激光粒度儀有很高的重復精度，并且取樣量比其他測量方法大，因此再現(xiàn)性也可以做到很高。
不論是重復性誤差還是再現(xiàn)性誤差，一般都是用相對或絕對均方差來表示的。
我們首先要弄清楚，不論是平均粒徑、邊界粒徑或者用戶特別感興趣的其他測量值，每一次的測量值跟上一次都不可能*一樣，因此每一個量的測量都存在誤差。
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