醫(yī)用手術(shù)服靜電衰減測試儀技術(shù)指標(biāo)
醫(yī)用手術(shù)服靜電衰減測試儀主要是用于實驗室以分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展新型靜電防護材料。同時該設(shè)備也可用于在生產(chǎn)制造領(lǐng)域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設(shè)備,依據(jù)各種標(biāo)準規(guī)范來進行靜電特性檢測和監(jiān)測。
符合標(biāo)準:
美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準IST 40.2(01)
美國聯(lián)邦標(biāo)準FED-STD-101C(Method 4046)
美G軍標(biāo)MIL-B-81705C
美軍標(biāo)MIL-PRF-81705D
中國GB 19082
中G軍標(biāo)GJB2625
主要參數(shù):
環(huán)境溫度測試范圍:0~40度
環(huán)境濕度測試范圍:20~35%RH,不結(jié)露
高壓電源:H.V(光暈放電電壓)0~10kVCAL(校準電壓)0~4kV
輸出信號:分析儀端口(分析儀)、SYNC端口(示波器)電壓0~±10V精度約10%
試驗臺旋轉(zhuǎn)速度:每分鐘1000轉(zhuǎn)
電*度調(diào)整:刻度尺及高度調(diào)整旋鈕
電源:AC 100V±10%,50Hz
技術(shù)指標(biāo):
1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試,金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料;
2.選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;
3.選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上,還可以測試粉體和液體靜電衰減時間;
4.配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進行測試,法拉第籠通過配套連接線連接406D主機;
5.法拉第籠具有互鎖裝置,打開法拉第籠時,高壓電源輸出被切斷;
6.STM-2驗證模塊提供一個標(biāo)準的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容,通過測試STM-2標(biāo)準模塊可以驗證是否正常;
7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下,放置在806B無損電極上后,可以直接測試粉體、液體和固體試樣;
8.顯示:指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計時器(中),彩色LED燈指示各個操作進程。
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