判斷光源質量三個重要標準:
a)光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光在6個光譜范圍內與太陽光的匹配程度,用百分比來表示。任何數(shù)據(jù)的偏離情況就能對模擬器匹配程度的等級進行劃分。對于AA*產(chǎn)品,理想的匹配百分比范圍是0.75 到1.25。由于Pasan擁有更為優(yōu)良的濾波鏡片,使得Pasan的光源表現(xiàn),其LMT和VLMT兩個系列的光源,已達到了A*標準,比IEC的*標準高出一倍:SM<±12.5%, IU<1%, LIT<1%,,STI<0.5%
b)輻照的均勻性
是指在指定測試區(qū)域的輻照度應達到一定的均勻度,光照均勻性是難達到和保持一項指標,工作面積上的強光點會導致被測電池效率產(chǎn)生的嚴重誤差和其他性能的紊亂。AA*產(chǎn)品就能將這種強光點對產(chǎn)品的影響降到,其空間均勻性嚴格控制于≤±2%。 大面積穩(wěn)態(tài)太陽模擬器,需要使用復雜的光學結構。太陽模擬器常用的勻光結構有兩種:一種是鏡面反射、透射為主的勻光結構,它一般采用燈陣、反射鏡,透鏡陣列等光學器件進行組合[15-16];另一種是漫反射為主的勻光結構,主要通過封閉的漫反射環(huán)境來實現(xiàn)勻光。
c)輻照的穩(wěn)定性
輻照穩(wěn)定度是AA*標準的第三項性能參數(shù)指標,它要求模擬器的輸出光束長時間保持穩(wěn)定的照度以確保太陽能電池效率測定的性,對于輻照不穩(wěn)定度,還細分為不穩(wěn)定度(LTI)和短期不穩(wěn)定度(STI),分別對應整個IV測試過程中輻照度的變化和取點過程中輻照度的變化。脈沖時間對于晶體硅電池而言,是*沒有影響的,因為其響應時間(response time 或者delay time)非常短,在測試儀采集數(shù)據(jù)的時候,電池早已達到飽和。但是對于染料敏化電池、非晶硅薄膜電池尤其是多結、HIT和Sunpower等其他結構的電池,其響應時間(delay time)從幾個ms到幾百個ms不等,其響應時間在取點時太陽電池是 否已經(jīng)飽和穩(wěn)定,是個必須認真考慮的問題。
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