SEM是掃描電子顯微鏡的縮寫，scanning electron microscope。這是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數(shù)連續(xù)可調(diào)可以達到30萬倍及以上；并且景深大、視野大、成像立體效果好。

此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。這個用來分析微區(qū)成分的儀器這就是能譜儀（EDS），英文全稱Energy Dispersive Spectrometer。

這2種分析方式，雖然比較昂貴，但是用處很大，用途很廣，普及率也越來越高。同時，分析實驗可以選擇的耗材也多了起來。

以往為了進行SEM和EDS分析，需要對試樣進行噴金處理、或者貼上導電膠?，F(xiàn)在又有了一種新選擇，使用導電填料。

導電填料可以很好的適配SEM分析，只需要熱鑲嵌時選擇使用導電填料進行鑲嵌，無需其他操作，就能適配SEM和EDS。

唯一需需要注意的就是：碳導電填料適用于SEM和TEM分析，不分析碳。導電填料適用于SEM和TEM分析，不分析銅。

導電填料產(chǎn)品一般是粉末狀，其外觀大致如下圖：

以上希望能幫到大家。