測(cè)厚儀一般測(cè)量原理:磁感應(yīng)法和渦流法
磁法,又稱電磁感應(yīng)法,是以介質(zhì)的電磁性(σ,ε,μ)差異為物質(zhì)基礎(chǔ),通過(guò)觀測(cè)和研究人工或天然的交變電磁場(chǎng)隨空間分布規(guī)律或隨時(shí)間的變化規(guī)律,達(dá)到某些勘查目的的一類電法勘探方法。按其電磁場(chǎng)隨頻率和時(shí)間的變化規(guī)律可分:頻率域和時(shí)間域電磁法。
涂層測(cè)厚儀有渦流測(cè)厚原理和磁性測(cè)厚原理之分
影響涂層測(cè)厚儀丈量的若干要素。磁性法丈量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)踐應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以為是細(xì)微的),為了防止熱處置和冷加工要素的影響,應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器停止校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成份及熱處置辦法有關(guān)。運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器停止校準(zhǔn);每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度,大于這個(gè)厚度,丈量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件外表外形的陡變敏感,因而在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處停止丈量是不牢靠的;試件的曲率對(duì)丈量有影響,隨著曲率半徑的減少明顯地增大,因而,在彎曲試件的外表上丈量也是不牢靠的;探頭會(huì)使軟涂層試件變形,因而在這些試件上測(cè)不出牢靠的數(shù)據(jù);基體金屬和涂層的外表粗糙度對(duì)丈量有影響。
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