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1、篩分法古老的粒度檢測(cè)方法。成本低廉，對(duì)粗顆粒檢測(cè)較為直觀。只能測(cè)試粒徑10-20微米以上的粉體，不能給出詳盡的粒度分布。
2、電阻法 電阻法的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量精度高，可以測(cè)量單位體積內(nèi)顆粒數(shù)量。不足之處在于量程較小，測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍也小，只適合窄分布樣品。
3、圖像法 圖像法的優(yōu)勢(shì)是測(cè)量數(shù)據(jù)詳盡，可以提供顆粒形貌測(cè)試分析。配置不同成像系統(tǒng)成本及性能差異巨大，測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍不足。
4、動(dòng)態(tài)光散射 動(dòng)態(tài)散射光納米粒度儀的優(yōu)勢(shì)就是測(cè)量下限可小于1納米，它的性能優(yōu)勢(shì)在納米及亞微米區(qū)間，且不擅長(zhǎng)測(cè)試寬分布樣品。
5、靜態(tài)光散射 激光粒度分析儀的優(yōu)勢(shì)是量程大、動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍寬。是當(dāng)前主流的粒度測(cè)試儀，適用于絕大多數(shù)的粉體行業(yè)。
6、其它方法 粒度測(cè)試的辦法還有很多。例如沉降法、超聲法、透氣法等等。這里就不一一舉例介紹。下面將給大家介紹一下當(dāng)今應(yīng)用廣泛的激光粒度儀測(cè)試原理。 激光粒度儀原理： 光是一種電磁波，光波在直線傳輸過(guò)程中遇到障礙物會(huì)發(fā)生偏轉(zhuǎn)。偏轉(zhuǎn)的角度跟障礙物的幾何尺寸相關(guān)。當(dāng)障礙物（顆粒）幾何尺寸越大時(shí)，光波偏轉(zhuǎn)的角度越小。反之，障礙物（顆粒）的幾何尺寸越小，光波偏轉(zhuǎn)角度越大。 激光粒度儀是利用光散射效應(yīng)進(jìn)行粒度測(cè)試的。
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