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集多種優(yōu)點(diǎn)于一身的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
隨著人類活動(dòng)對(duì)環(huán)境影響的加劇，顆粒物群體逐漸龐大，威脅著生態(tài)環(huán)境和人們的健康。不管是常見(jiàn)的灰蒙蒙的天空，還是不時(shí)出現(xiàn)的霧霾天氣，其本質(zhì)正是由無(wú)處不在的顆粒污染物造成的。無(wú)論是室內(nèi)還是室外，空氣質(zhì)量的評(píng)估、治理和改善工作需要可靠的儀器加持。
由Palas 研發(fā)的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，集納米測(cè)量、操作靈活便捷、監(jiān)測(cè)結(jié)果精準(zhǔn)等諸多優(yōu)點(diǎn)于一身，適用于多種研究場(chǎng)景，可以有效測(cè)量和評(píng)估空氣污染程度。
由Palas 研發(fā)的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，集納米測(cè)量、操作靈活便捷、監(jiān)測(cè)結(jié)果精準(zhǔn)等諸多優(yōu)點(diǎn)于一身，適用于多種研究場(chǎng)景，可以有效測(cè)量和評(píng)估空氣污染程度。
Palas U-SMPS體現(xiàn)了高尺寸分辨率（120通道/十倍粒徑）的優(yōu)勢(shì)，通過(guò)使用系統(tǒng)軟件PDAnalyze，一鍵自動(dòng)保存數(shù)據(jù)無(wú)需外部數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)和無(wú)需額外同步設(shè)備時(shí)間，使顆粒物水平的變化清晰可見(jiàn)。同時(shí)可以自動(dòng)合并粒徑分布圖，得到直觀的數(shù)據(jù)結(jié)果。
顆粒物監(jiān)測(cè)專家Palas的納米設(shè)備擁有業(yè)內(nèi)先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)，市面上單純的光學(xué)監(jiān)測(cè)只能測(cè)量到大于120nm以上的顆粒，而U-SMPS組合尺寸分布為4nm至40,000nm。Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀可靠的監(jiān)測(cè)結(jié)果可與校準(zhǔn)中心（TROPOS，萊比錫）媲美。儀器結(jié)合了準(zhǔn)確可靠的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能，可提供靈活監(jiān)測(cè)設(shè)備。Palas智能解決方案和緊密的客戶關(guān)系為傳統(tǒng)粒徑分析市場(chǎng)打開(kāi)大門。
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