光學顯微鏡和電子顯微鏡在清潔度分析領域的分析方法從兩方面來區(qū)分

來源：安徽澤攸科技有限公司 2022年07月05日 10:50

　　光學顯微鏡和電子顯微鏡是清潔度分析領域常用的兩種儀器，那么這兩種分析方法的區(qū)別主要從兩方面來看。

　　從使用條件來看：

　　光學顯微鏡的信號源是可見光的，可見光的波長較長，可以輕松繞過空氣分子，因此可以在大氣環(huán)境下運行。

　　掃描電鏡的信號源是電子束，相對于可見光，電子束的波長短，所以分辨率高，圖像清晰；不過，較短的波長，繞過空氣分子的能力將會變差，因此掃描電鏡sem內(nèi)部會通過多級真空泵，將空氣分子抽走，以維持一定的真空度。

　　從測試結(jié)果來看：

　　由于其價格低廉、操作簡單在清潔度分析領域得到了廣泛應用。在光學顯微鏡下，金屬顆粒會有一定的反光，非金屬顆粒不反光，因此可以根據(jù)顆粒是否反光，來大致區(qū)分金屬和非金屬，但是局限性是無法分析出具體是哪一種類的顆粒。

　　掃描電鏡除了可以找到雜質(zhì)顆粒外，還可以分析顆粒的種類。通過搭配能譜探測器，通過能譜信號，進一步給出顆粒的元素種類和含量信息，進而對照數(shù)據(jù)庫，就能判斷出顆粒的種類。

掃描電鏡

　　那么掃描電鏡sem和清潔度分析對樣品的要求都有哪些？

　　掃描電鏡對制樣的要求：粉末樣品一定要粘牢，未粘牢的顆粒需要用洗耳球或壓縮空氣吹掃干凈。因為固定不牢的顆粒在抽真空過程中會飄浮起來，會污染光路，嚴重者甚至可撞破能譜探測器的探頭，對掃描電鏡sem會造成一定的損壞。

　　清潔度分析對制樣的要求：清潔度分析的樣品為濾膜，濾膜樣品不能吹掃。因為部分顆粒物靠重力落在濾膜上，吹掃會損失這部分顆粒，會造成結(jié)果的不準確的事情發(fā)生。

　　因此，掃描電鏡的安全性和清潔度分析的準確性產(chǎn)生了矛盾，前者要吹掃，后者不能吹掃，那么該如何解決這一矛盾呢？

　　兼顧掃描電鏡sem安全性和清潔度分析準確性的制樣方法：濾膜顆粒固定法

　　為了解決上面的矛盾，我們分享一套簡單有效的方法：濾膜顆粒固定法。將配置好的固定液，滴在錫箔紙上并涂勻，將濾膜平鋪在固定液上。由于毛細現(xiàn)象，固定液會順著濾膜微孔滲到濾膜上表面，將濾膜顆粒固定。

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