德國Langer EMV-Technik集成電路探測頭簡介及采購

德國Langer EMV-Technik探測頭產(chǎn)品簡介

品牌概述：Langer EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領(lǐng)域的，集研究、發(fā)展和生產(chǎn)于一體的中型電工公司。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術(shù)展現(xiàn)出在組件和集成電路開發(fā)中的新視角和經(jīng)濟高效的工作策略。Langer主要產(chǎn)品：Langer掃描儀、Langer掃描探頭(30MHz-3GHz)、Langer探測頭、Langer放大器、Langer測量儀等儀器儀表備件，今天小編主要為大家介紹的是LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場探頭

德國Langer EMV-Technik集成電路探測頭簡介及采購

一、LANGER公司簡介

LANGER EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領(lǐng)域的，集研究、發(fā)展和生產(chǎn)于一體的中型電工公司。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術(shù)展現(xiàn)出在組件和集成電路開發(fā)中的新視角和經(jīng)濟高效的工作策略。LANGER產(chǎn)品主要有掃描儀/掃描探頭/探測頭/放大器等。Langer EMV-Technik GmbH的EMC專業(yè)知識和測量技術(shù)為開發(fā)人員和設(shè)計人員打開了組件開發(fā)和IC開發(fā)的新視野和高效的工作策略。EMC的研究結(jié)果和廣泛的知識在面向?qū)嵺`的EMC實驗研討會和內(nèi)部活動中進行傳遞。

Langer EMV-Technik在電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域進行研究，開發(fā)，生產(chǎn)和提供建議。EMC實驗研討會和EMC研討會向他們的客戶傳達了廣泛的知識。Langer EMV-Technik GmbH是一家德國公司，致力于電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域的研究，開發(fā)，生產(chǎn)和培訓。他們在范圍內(nèi)都需要伴隨開發(fā)的用于干擾發(fā)射和抗擾度的EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)。有關(guān)解決EMC任務的與開發(fā)有關(guān)的個人建議，使開發(fā)人員和設(shè)計人員可以更輕松地解決IC，設(shè)備和模塊開發(fā)中的復雜EMC問題。

二、LANGER產(chǎn)品介紹

1、LANGER掃描儀探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場探頭的測量線圈與探頭軸正交布置。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。這樣就可以在電路板表面上難以觸及的位置進行測量，例如在開關(guān)調(diào)節(jié)器的大型組件之間進行測量。

②LFS-B 3是無源近場探頭。與磁場探頭LFS-R 3的區(qū)別在于線圈旋轉(zhuǎn)了90°。LFS-B 3檢測從測量對象正交出現(xiàn)的磁場線。未檢測到從側(cè)面進入探頭的磁場線。近場探頭小巧方便。它具有護套電流阻尼并且具有電屏蔽功能。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。H場探頭內(nèi)部沒有50端接電阻。

2、LANGER近場探頭

①單個近場探頭不足以搜索發(fā)射。而是，硬件開發(fā)人員的任務是選擇和使用相關(guān)的探針。

②對于模塊的EMC優(yōu)化，重要的是開發(fā)一種用于近場測量的測量策略，以便使用所選的近場探頭在板上找到發(fā)射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為模塊上的近場偵察提供各種H/B近場探頭和E/D近場探頭。每個探針家族都是根據(jù)特定任務開發(fā)的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭特別具有實用的引腳形狀。它們很小且方便。這使開發(fā)人員可以在其電子產(chǎn)品上進行靈活而有針對性的測量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭通常適用于在100 kHz至20 GHz頻率范圍內(nèi)測量RF干擾所需的所有預一致性測量。

⑥所有近場探頭均由德國的Langer EMV-Technik GmbH開發(fā)，制造和校準。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉(zhuǎn)換為探針頭位置處的磁場。校正特性可作為EXCEL作為xlsx文件下載準備在他們。您會從Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設(shè)計的成套或單獨的近場探頭。

3、LANGER近場探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場探頭套件LF1包含四個屏蔽無源近場探頭，用于電子組件上LW，MW和KW范圍內(nèi)HF磁場的發(fā)展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發(fā)射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從更遠的距離確定模塊的干擾發(fā)射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位干擾源。

③這些探頭可以對單個引腳，較大的組件和結(jié)構(gòu)部件進行測量。近場探頭小巧方便。它們具有護套電流阻尼并且被電屏蔽。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。

④磁場探頭LF-B 3的測量線圈與探頭軸正交。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位于印刷電路板的表面上。結(jié)果，在電路板表面難以到達的位置進行了測量，例如在大型建筑物之間。

LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場探頭

三、LANGER主要產(chǎn)品和型號

1、LANGER主要產(chǎn)品

①德國LANGER掃描儀

②德國LANGER掃描探頭

③德國LANGER探測頭

④德國LANGER放大器

⑤德國LANGER近場探頭

2、LANGER產(chǎn)品型號

①德國LANGER磁場探頭100 KHz至50 MHz

②德國LANGER LF-R 50，H場探頭100 KHz至50 MHz

③德國LANGER磁場探頭100 KHz至50 MHz

④德國LANGER BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1

⑤德國LANGER SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2

⑥德國LANGER RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251

⑦德國LANGER Langer前置放大器PA 306 SMA SET(100kHz-6GHz)

⑧德國LANGER Langer近場探頭組SX1 SET(1GHz-10GHz)

⑨德國LANGER Langer近場探頭組XF1 SET(30MHz-6GHz)

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