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Bruker Dektak XT臺階儀在半導體芯片中的應用

來源:上海爾迪儀器科技有限公司   2022年08月08日 16:41  

臺階儀(探針式輪廓儀)通過記錄探針在物體表面的垂直位移,從而達到測量物體表面臺階高度、粗糙度等物理參數(shù)的目的。主要用于薄膜材料厚度(2D)測量和表面形貌測量(3D)。臺階儀可精確獲得定量的臺階高度、線粗糙度、薄膜曲率半徑,測量薄膜應力等。Bruker Dektak XT臺階儀由于其操作簡單、分辨率高及重復性良好等優(yōu)點,被廣泛用于半導體、微電子、太陽能、LED、觸摸屏、醫(yī)療等領(lǐng)域。 Bruker Dektak XT臺階儀有以下特點:


高度方向采用先進的LVDT線性位移傳感器,該傳感器因其結(jié)構(gòu)為無接觸式,使其具有無摩擦、無磨損等特點。

臺階高度重現(xiàn)性小于4?。

垂直分辨率高達1 ?。

標配探針更換工具,保證探針更換安全快捷。

標配薄膜應力測試功能。

精簡的Vision64 軟件系統(tǒng),結(jié)合智能結(jié)構(gòu), 具備可視化工作流程及各種自助設定功能,以滿足用戶快速并全面進行數(shù)據(jù)收集和分析。


近年來,為了打破國外對我國半導體芯片技術(shù),解決“卡脖子”問題,國家加大對半導體芯片行業(yè)的投入。在政府的鼓勵及扶持下,各地半導體企業(yè)數(shù)量也來越多,規(guī)模及產(chǎn)能也越來越大。 


晶圓在生產(chǎn)制造的過程中,會對晶圓進行鍍膜以及刻蝕工藝,鍍膜后要進行膜厚的測量,刻蝕后要進行刻蝕的深度等進行測量,從而判斷是否滿足工藝要求。臺階儀因其使用方便、快捷、準確等特點,而成為工程師們測膜的選擇。


Bruker Dektak XT臺階儀在使用過程中操作簡單,整個測試過程在可通過CCD在軟件界面中實時觀測。


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