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德國INGUN測試探針主要類型介紹

德國INGUN質(zhì)量通過精密的測試而得出的，根據(jù)這個測試，1971年一直在開發(fā)、制造和銷售各種測試設(shè)備的領(lǐng)域。德國INGUN一個全球性經(jīng)營公司檢測設(shè)備制造和提供測試探針和測試夾具。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（B1ade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針（ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mi1，75mi1，50mi1，還有更特別的直徑只有0.19mm，主要用于在線電路測試和功能測試.

也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針（Interface Probes）非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne）和安捷倫（Agilent）.用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.

3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針（Switch Probes）開關(guān)探針單一支探針有兩路電流.

5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.

7.高電流探針（High Current Probes）探針直徑在

2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針（Semiconductor Probes）直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz，50Q characteristic

9.電池接觸探針（Battery and Connector Contacts）一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長.除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

INGUN GKS003系列型號：

GKS003-308-254A2000

GKS003-307-254A2000

GKS003-307-300A2000

GKS003-305-254A2000

GKS003-305-170A2000

GKS003-308-254A2000

GKS003-302-127A2000

GKS003-302-100A2000