測(cè)厚儀，顧名思義，就是用來(lái)測(cè)量某種物體厚度的儀器，英文名稱為thickness gauge，是一類用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連接或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。測(cè)厚儀廠家介紹專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

測(cè)厚儀原理——涂層測(cè)厚儀

涂層測(cè)厚儀：主要采用的是電磁感應(yīng)法來(lái)測(cè)量涂層的厚度。涂層測(cè)厚儀會(huì)在部件表面的探頭處產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會(huì)發(fā)生不同程度的改變，因此會(huì)引起磁阻及探頭線圈電感的變化。

測(cè)厚儀原理——激光測(cè)厚儀

激光測(cè)厚儀：此類測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切測(cè)量和觀察機(jī)械造中零件加工表面的微觀幾何形狀開(kāi)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。

測(cè)厚儀原理——X射線測(cè)厚儀

X射線測(cè)厚儀：此類測(cè)厚儀利用的是X射線穿透被測(cè)材料是，X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。

測(cè)厚儀原理——電解測(cè)厚儀

電解測(cè)厚儀：電解測(cè)厚儀是利用法拉第原理設(shè)計(jì)，其過(guò)程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。

測(cè)厚儀原理——超聲波測(cè)厚儀

超聲波測(cè)厚儀：這種測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來(lái)對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖會(huì)發(fā)生發(fā)射而返回探頭，通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間，來(lái)計(jì)算被測(cè)材料的厚度。

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