菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特點(diǎn):
操作簡(jiǎn)單且性?xún)r(jià)比高。
自下而上進(jìn)行測(cè)量,從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品
廣泛適用:為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號(hào)
以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析
帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型,可對(duì)極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應(yīng)用:
鍍層厚度測(cè)量
厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
時(shí)尚首飾:對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
抗磨損鍍層,如:對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量
測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層(凸點(diǎn)下金屬化層,UBM)
材料分析
測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)
功能性鍍層的成分,如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量。
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