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科普丨芯片可靠性分析——PCT高壓加速老化測(cè)試

來(lái)源:上海簡(jiǎn)戶(hù)儀器設(shè)備有限公司【環(huán)境試驗(yàn)箱|冷熱沖擊|高低溫試驗(yàn)箱】   2022年09月27日 17:27  

科普丨芯片可靠性分析——PCT高壓加速老化測(cè)試

一般塑封器件的失效可分為早期失效和使用期失效,前者多是由設(shè)計(jì)或工藝失誤造成的質(zhì)量缺陷所致,可通過(guò)常規(guī)電性能檢測(cè)和篩選來(lái)判別。后者則是由器件的潛在缺陷引起的,潛在缺陷的行為與時(shí)間和應(yīng)力有關(guān),經(jīng)驗(yàn)表明,受潮、腐蝕、機(jī)械應(yīng)力、電過(guò)應(yīng)力和靜電放電等產(chǎn)生的失效占主導(dǎo)地位。

PCT高壓加速老化測(cè)試最主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體之中,其常見(jiàn)的故障原因有爆米花效應(yīng)、主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贩庋b體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。



01

PCT高壓加速老化測(cè)試概念



PCT高壓加速老化測(cè)試也稱(chēng)為壓力鍋蒸煮試驗(yàn)或是飽和蒸汽試驗(yàn),最主要是將待測(cè)品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和濕度(100%.H.飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測(cè)試,測(cè)試待測(cè)品耐高濕能力,針對(duì)印刷線(xiàn)路板(PCB&FPC),用來(lái)進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等試驗(yàn)?zāi)康?如果待測(cè)品是半導(dǎo)體的話(huà),

則用來(lái)測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試,如果半導(dǎo)體封裝的不好,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體之中,常見(jiàn)的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。


高壓加速老化試驗(yàn)箱(HAST)
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02

PCT高壓加速老化測(cè)試參考標(biāo)準(zhǔn)



IEC60068-2-66、JESD22-A102-B、EIAJED4701、EIA/JESD22



03

PCT高壓加速老化測(cè)試的失效現(xiàn)象



一、腐蝕失效與IC

腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質(zhì)離子)會(huì)造成IC的鋁線(xiàn)發(fā)生電化學(xué)腐蝕,而導(dǎo)致鋁線(xiàn)開(kāi)路以及遷移生長(zhǎng)。


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二、塑封半導(dǎo)體因濕氣腐蝕而引起的失效現(xiàn)象

由于鋁和鋁合金價(jià)格便宜,加工工藝簡(jiǎn)單,因此通常被使用為集成電路的金屬線(xiàn)。從進(jìn)行集成電路塑封制程開(kāi)始,水氣便會(huì)通過(guò)環(huán)氧樹(shù)脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線(xiàn)產(chǎn)生腐蝕進(jìn)而產(chǎn)生開(kāi)路現(xiàn)象,成為質(zhì)量管理最為頭痛的問(wèn)題。雖然通過(guò)各種改善包括采用不同環(huán)氧樹(shù)脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高質(zhì)量進(jìn)行了各種努力,但是隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展,塑封鋁金屬導(dǎo)線(xiàn)腐蝕問(wèn)題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。

三、θ10℃法則

討論産品壽命時(shí),一般采用[θ10℃法則]的表達(dá)方式,簡(jiǎn)單的說(shuō)明可以表達(dá)為[10℃規(guī)則],當(dāng)周?chē)h(huán)境溫度上升10℃時(shí)產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半;當(dāng)周?chē)h(huán)境溫度上升20℃時(shí),產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一。這種規(guī)則可以說(shuō)明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命(失效)的,相反的產(chǎn)品的可靠度試驗(yàn)時(shí),也可以利用升高環(huán)境溫度來(lái)加速失效現(xiàn)象發(fā)生,進(jìn)行各種加速壽命老化試驗(yàn)。

四、濕氣所引起的故障原因

水汽滲入、聚合物材料解聚、聚合物結(jié)合能力下降、腐蝕、空洞、線(xiàn)焊點(diǎn)脫開(kāi)、引線(xiàn)間漏電、芯片與芯片粘片層脫開(kāi)、焊盤(pán)腐蝕、金屬化或引線(xiàn)間短路水汽對(duì)電子封裝可靠性的影響:腐蝕失效分層和開(kāi)裂、改變塑封材料的性質(zhì)。

五、鋁線(xiàn)中產(chǎn)生腐蝕過(guò)程

①水氣滲透入塑封殼內(nèi)→濕氣滲透到樹(shù)脂和導(dǎo)線(xiàn)間隙之中

②水氣滲透到芯片表面引起鋁化學(xué)反應(yīng)

加速鋁腐蝕的因素:

①樹(shù)脂材料與芯片框架接口之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率的差異)

②封裝時(shí),封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子的污染(由于雜質(zhì)離子的出現(xiàn))

③非活性塑封膜中所使用的高濃度磷

④非活性塑封膜中存在的缺陷

六、爆米花效應(yīng)(Popcorn Effect)

原指以塑料外體所封裝的IC,因其芯片安裝所用的銀膏會(huì)吸水,一旦末加防范而徑行封牢塑體后,在下游組裝焊接遭遇高溫時(shí),其水分將因汽化壓力而造成封體的爆裂,同時(shí)還會(huì)發(fā)出有如爆米花般的聲響,故而得名,當(dāng)吸收水汽含量高于0.17%時(shí),[爆米花]現(xiàn)象就會(huì)發(fā)生。近來(lái)十分盛行P-BGA的封裝組件,不但其中銀膠會(huì)吸水,且連載板之基材也會(huì)吸水,管理不良時(shí)也常出現(xiàn)爆米花現(xiàn)象。


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七、水汽進(jìn)入IC封裝的途徑

①I(mǎi)C芯片和引線(xiàn)框架及SMT時(shí)用的銀漿所吸收的水

②塑封料中吸收的水分

③塑封工作間濕度較高時(shí)對(duì)器件可能造成影響;

④包封后的器件,水汽透過(guò)塑封料以及通過(guò)塑封料和引線(xiàn)框架之間隙滲透進(jìn)去,因?yàn)樗芰吓c引線(xiàn)框架之間只有機(jī)械性的結(jié)合,所以在引線(xiàn)框架與塑料之間難免出現(xiàn)小的空隙。

備注:只要封膠之間空隙大于3.4*1^-10m以上,水分子就可穿越封膠的防護(hù)。氣密封裝對(duì)于水汽不敏感,一般不采用加速溫濕度試驗(yàn)來(lái)評(píng)價(jià)其可靠性,而是測(cè)定其氣密性、內(nèi)部水汽含量等。

八、外引腳錫短路

封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會(huì)造成離子遷移不正常生長(zhǎng),而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。

九、濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕

濕氣經(jīng)過(guò)封裝過(guò)程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過(guò)經(jīng)過(guò)表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流.,等問(wèn)題,如果有施加偏壓的話(huà)故障更容易發(fā)生。


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04

PCT高壓加速老化測(cè)試參考條件



試驗(yàn)設(shè)備:PCT高壓蒸煮老化試驗(yàn)箱

滿(mǎn)足溫度范圍+105℃~+162.5℃,濕度范圍100%R.H


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  • 行業(yè)應(yīng)用的流體仿真設(shè)計(jì)技術(shù)與產(chǎn)品工藝制造技術(shù),產(chǎn)品更節(jié)能。

  • 內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

  • 全自動(dòng)補(bǔ)水功能,前置式水位確認(rèn)。

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  • 上海簡(jiǎn)戶(hù)儀器設(shè)備有限公司是一家高科技合資企業(yè),生產(chǎn)銷(xiāo)售鹽霧箱、恒溫恒濕機(jī)、冷熱沖擊機(jī)、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、機(jī)械沖擊機(jī)、跌落試驗(yàn)機(jī)的環(huán)境試驗(yàn)儀器的公司,研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售經(jīng)營(yíng)各類(lèi)可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。經(jīng)驗(yàn)豐富,并得到許多國(guó)內(nèi)外廠(chǎng)商的信賴(lài)與支持。

  •   自公司成立以來(lái),多次服務(wù)于國(guó)內(nèi)外大學(xué)和研究所等檢測(cè)機(jī)構(gòu),如清華大學(xué)、蘇州大學(xué)、哈爾濱工業(yè)大學(xué)、北京工業(yè)大學(xué)、法國(guó)申美檢測(cè)、中科院物理所、中科院,SGS等**單位提供實(shí)施室方案和設(shè)備及其相關(guān)服務(wù)。努力開(kāi)發(fā)半導(dǎo)體、光電、光通訊、航天太空、生物科技、食品、化工、制藥等行業(yè)產(chǎn)品所需的測(cè)試設(shè)備裝置。公司擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售後隊(duì)伍,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務(wù),每一個(gè)環(huán)節(jié)都以客戶(hù)的觀點(diǎn)與需求作為思考的出發(fā)點(diǎn)。


  •   為適應(yīng)市場(chǎng)快速變化及客戶(hù)多樣化的要求,上海簡(jiǎn)戶(hù)儀器設(shè)備有限公司研發(fā)了性能與可靠性**JianHuTest產(chǎn)品系列.從精密零件到電腦資訊系統(tǒng)及有線(xiàn)無(wú)線(xiàn)通訊產(chǎn)業(yè),均可提供高品質(zhì)的設(shè)備與完善的售后服務(wù)。
      上海簡(jiǎn)戶(hù)榮獲企業(yè),表明上海簡(jiǎn)戶(hù)在技術(shù)、科技成果轉(zhuǎn)化、擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)等方面得到了國(guó)家的高度認(rèn)可。簡(jiǎn)戶(hù)一直秉承"服務(wù)以人為本"的宗旨,為廣大客戶(hù)提供精良的設(shè)備及優(yōu)質(zhì)的服務(wù),提供的送貨上門(mén)、安裝調(diào)試、一年的設(shè)備保養(yǎng)、終身維修,技術(shù)指導(dǎo)服務(wù)。始終如一的以"努力、合作、飛躍"的精神自我完善、不斷發(fā)展、讓客戶(hù)與公司實(shí)現(xiàn)雙贏局面。
      簡(jiǎn)戶(hù)是集設(shè)計(jì)、銷(xiāo)售、研發(fā)、維修服務(wù)等為一體的綜合集團(tuán)公司,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務(wù),每一個(gè)環(huán)節(jié)之間,都以客戶(hù)的觀點(diǎn)與需求作為思考的出發(fā)點(diǎn),提供的環(huán)境設(shè)備。公司創(chuàng)始人從事儀器設(shè)備行業(yè)20余年,經(jīng)驗(yàn)豐富、資歷雄厚,帶領(lǐng)簡(jiǎn)戶(hù)公司全體同仁攜手共建輝煌明天。公司成立以來(lái),積極投入電子電工,航空,航天,生物科技,各大院校,及科研單位等行業(yè)所需的產(chǎn)品測(cè)試設(shè)備裝置。
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