泰勒霍普森粗糙度測(cè)量儀TAYLOR HOBSON產(chǎn)品

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116技術(shù)參數(shù)

數(shù)據(jù)顯示 

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116顯示屏每頁顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。

電源：

充電器USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時(shí)間4小時(shí)

電池壽命充電一次可以做2000次測(cè)試

待機(jī)時(shí)間5000小時(shí),由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測(cè)試狀態(tài)，zui長時(shí)間不超過1秒I

自動(dòng)關(guān)機(jī)30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍400 um 100 um 10 um

分辨率 50 nm 20 nm 5 nm

底噪(Ra 150 nm 100 nm 50 nm

重復(fù)精度 (Ra) 1%測(cè)試值+底噪

傳感器原電感 測(cè)量力 50-300mg

測(cè)針針尖半徑 標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式 滑動(dòng)掃描

自動(dòng)軟件校準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287