普雷茨特光學(xué)光譜共焦線傳感器 CHRocodile CLS 2.0 是在嚴(yán)酷的工業(yè)環(huán)境中進(jìn)行精 確3D在線質(zhì)量控制的理想工具。通過高達(dá) 36,000 條輪廓/秒的快速線掃，可以在很短的時間內(nèi)確定樣品的三維結(jié)構(gòu)。光譜共焦測量技術(shù)提供的數(shù)據(jù)具有橫向和軸向分辨率，能夠確保對任何類型的材料進(jìn)行測量，即使是復(fù)雜的幾何形狀也沒有陰影效應(yīng)。

此外，易于更換的光學(xué)探頭提供了高度的靈活性，使傳感器的規(guī)格符合用戶的要求。用戶可以選擇 12mm 的線寬，用于快速檢測大型部件，或者選擇具備優(yōu)異數(shù)值孔徑的短線，用于測量帶有大角度傾斜的表面，例如智能手機(jī)或手表顯示屏的倒角等。

線傳感器 CLS 2.0 系列非常適合如下應(yīng)用：

在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用：引線鍵合檢測、凸點測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻；

在消費電子領(lǐng)域的應(yīng)用：外殼形貌檢查，輕微、中等和高度彎曲表面的檢查、倒角和轉(zhuǎn)角檢查、直徑/孔/梯形表面檢查、特殊高度物體的外觀檢查。

線傳感器 CLS 2.0 系列在亞微米范圍內(nèi)具有高精度，在醫(yī)學(xué)行業(yè)的冠狀動脈支架檢測方面也有優(yōu)勢。

通過將支架放在旋轉(zhuǎn)支架上，可以方便快捷地檢查整個支架的正確曲率、直徑、變形、表面缺陷和其他不規(guī)則情況。由于配套探頭的數(shù)值孔徑很大，可以實現(xiàn)在沒有陰影影響的情況下分析支架的內(nèi)部。