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方塊電阻測試儀的使用特點
TD-XX-2型方塊電阻測試儀，是TD-XX型系列四探針方塊電阻 測試儀中的新一代產(chǎn)品， 是一種依照類似的國家標準和美國 A.S.T.M標準而設計，**門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新 型儀器。
可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同類物質的薄層電阻。
技術特點：
* 測量范圍：基本量程：方塊電阻 1.00—199.99(Ω/□)； 擴展量程：方塊電阻 10.0—1999.9(Ω/□)；
* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰。
* 采用單個干電池供電，帶電池欠壓指示；
* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
* 帶探頭與被測物質接觸良好指示(LED)；
* 單電源開關，推拉式探頭-主機接插件，操作其簡便。
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