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Park原子力顯微鏡可以說是研究納米尺度樣品的通用，強(qiáng)大的顯微鏡技術(shù)。原子力顯微鏡的多功能性主要體現(xiàn)在它不僅可以在三維形貌中成像，還可以滿足科學(xué)家和工程師的需求，提供各種類型的表面測量。AFM能夠以原子級分辨率生成具有埃量級高精度信息的圖像。
那么，Park原子力顯微鏡的工作原理是怎樣的呢？
Park原子力顯微鏡的原理
- 表面?zhèn)鞲?/span>
原子力顯微鏡運用懸臂末端銳利的針尖來掃描樣品表面。當(dāng)探針接近樣品表面時，樣品與針尖之間的短程吸引力吸引針尖向表面移動。然而，當(dāng)表面和針尖直接接觸時，排斥力將會增大并占主導(dǎo)作用使懸臂向上彎曲。
- 檢測方法
激光束被用于檢測懸臂是靠近還是遠(yuǎn)離表面。入射光束被懸臂平頂上表面反射到位敏光電二極管（PSPD）中，用來檢測懸臂彎曲所導(dǎo)致的反射光束位置的輕微改變。當(dāng)針尖通過凸起的表面形態(tài)形貌時，懸臂的彎曲和相應(yīng)的反射激光束的變化都會被PSPD記錄下來。
- 成像
原子力顯微鏡通過運用懸臂對特定區(qū)域的掃描來完成樣品表面形貌成像。位敏光電二極管檢測樣品表面高低起伏的形貌所導(dǎo)致的懸臂彎曲，并通過反饋回路控制針尖在表面的高度來穩(wěn)定激光位置，最終可以形成一幅精確的表面形貌像。
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