芯片推拉力測(cè)試機(jī)測(cè)試LED焊接強(qiáng)度的方法
芯片推拉力測(cè)試機(jī)作為新一代系統(tǒng),它實(shí)現(xiàn)了良好的準(zhǔn)確度和數(shù)據(jù)可重復(fù)性,可提供值得信賴的結(jié)果。廣泛應(yīng)用于5G光器件封裝、芯片鍵合線焊接、鍵合強(qiáng)度、粗鋁線、CCM器件封裝、元器件焊接研究所材料力學(xué)研究、材料可靠性測(cè)試等應(yīng)用領(lǐng)域,是SMT工藝、鍵合工藝等的動(dòng)態(tài)力學(xué)檢測(cè)儀器,能滿足包含有:金屬、銅線、合金線、鋁線、鋁帶等拉力測(cè)試、金球、銅球、錫球、晶圓、芯片、貼片元件等推力測(cè)試、錫球等拉拔測(cè)試等等具體應(yīng)用需求,功能可擴(kuò)張性強(qiáng)、操控便捷、測(cè)試效率高,準(zhǔn)確。可根據(jù)要求定制底座、夾具、校驗(yàn)治具、砝碼和測(cè)試工具滿足各種不同尺寸的樣品。
伴隨著LED芯片技術(shù)的發(fā)展,LED封裝技術(shù)也有了理論和工藝實(shí)踐上的創(chuàng)新與突破,正在從支架型封裝燈驅(qū)分離技術(shù)時(shí)代過(guò)渡到無(wú)支架型集成封裝燈驅(qū)合一技術(shù)時(shí)代。芯片推拉力測(cè)試機(jī)的研發(fā)就是為了在封裝焊接工藝完成后,對(duì)LED芯片進(jìn)行焊接強(qiáng)度測(cè)試,避免發(fā)生短路、短路、漏電等不良問(wèn)題。那么,芯片推拉力測(cè)試機(jī)是如何測(cè)試LED焊接強(qiáng)度的呢?
試驗(yàn)方法:
在試驗(yàn)設(shè)備上安裝剪切工具和試驗(yàn)樣品。剪切工具正好在位于基板上的位置與芯片接觸,在垂直于芯片或基板的一邊界并平行于基板的方向上施加外力,使芯片可以被平行于器件表面的剪切工具剪切,如下圖所示。應(yīng)小心安放器件以免對(duì)芯片造成損傷。對(duì)于某些類型的封裝,由于封裝結(jié)構(gòu)會(huì)妨礙芯片的剪切力測(cè)試,當(dāng)規(guī)定要采用本試驗(yàn)方法時(shí),需要采用有效的化學(xué)或物理方法將妨礙部分去除,但不得破壞芯片倒裝區(qū)和填充區(qū)。
注意:剪切工具應(yīng)由堅(jiān)硬的剛性材料、陶瓷或其他非易彎曲的材料構(gòu)成。剪切工具應(yīng)和器件底面成90°±5°。把剪切工具和芯片對(duì)齊,使其可以接觸芯片的一側(cè)。應(yīng)保證剪切工具在行進(jìn)時(shí)不會(huì)接觸基板。使用可移動(dòng)的試驗(yàn)臺(tái)和工具臺(tái)進(jìn)行對(duì)齊,并使移動(dòng)平面垂直于負(fù)載方向。應(yīng)特別注意,在試驗(yàn)安裝中不應(yīng)碰觸到進(jìn)行試驗(yàn)的凸點(diǎn)。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明“來(lái)源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來(lái)源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)和對(duì)其真實(shí)性負(fù)責(zé),不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來(lái)源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
- 如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問(wèn)題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。