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在一定的厚度以上，X射線熒光對鍍層的無損測量達到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準確地測量許多常見的單層和多層鍍層。
庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。
應(yīng)用
電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進廠檢驗
可以準確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)
金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量
多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
單鍍層如鐵上鍍鋅
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