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Thermo Scientific™ Nexsa™ X射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)具有分析靈活性，可大限度地發(fā)現(xiàn)材料潛能。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時，以可選多技術聯(lián)合的形式提供靈活性，從而實現(xiàn)真正意義上多技術聯(lián)合的分析檢測和高通量。
賽默飛X射線光電子能譜儀 標準化功能催生強大性能：
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術聯(lián)合
·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
·用于 ARXPS 測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件
·小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行
·ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。
·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結(jié)構信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結(jié)構層面的指紋信息
·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構和帶隙信息
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