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科研級(jí)接觸角測(cè)量?jī)x——為表面性質(zhì)研究提供有力支撐
近年來，隨著微納米技術(shù)的不斷發(fā)展，研究者們對(duì)于微納米界面性質(zhì)的研究需求越來越迫切。而其中一個(gè)重要參數(shù)——接觸角的測(cè)量，一直是微納米領(lǐng)域研究的難點(diǎn)之一。
為了解決這一問題，公司推出一款科研級(jí)接觸角測(cè)量?jī)x，該設(shè)備采用靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)量模式，可以精準(zhǔn)地測(cè)量微米級(jí)甚至納米級(jí)物體表面的接觸角，并且具有快速、自動(dòng)化操作的特點(diǎn)。
科研級(jí)接觸角測(cè)量?jī)x的關(guān)鍵技術(shù)在于其使用了高精度傳感器和先進(jìn)的圖像處理算法，能夠在不同液體和固體界面中實(shí)現(xiàn)接觸角的測(cè)量，并在測(cè)量過程中自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)、計(jì)算結(jié)果。同時(shí)，該設(shè)備還具有多種分析功能，例如表面自由能的計(jì)算、表面張力的測(cè)量等，可為微納米領(lǐng)域的研究提供更加全面的實(shí)驗(yàn)支持。
工作原理
科研級(jí)接觸角測(cè)量?jī)x主要采用光學(xué)法來測(cè)量液滴與固體表面的接觸角。其主要原理是利用斯涅爾定律和亥姆霍茲自由能原理來計(jì)算接觸角。
斯涅爾定律指出，當(dāng)光線從一個(gè)密度較高的介質(zhì)射入到密度較低的介質(zhì)中時(shí)，會(huì)發(fā)生折射。因此，當(dāng)液滴放置在固體表面上時(shí)，它們之間的交界面會(huì)產(chǎn)生一些折射和反射。通過對(duì)這些折射和反射的測(cè)量，可以計(jì)算出液滴與固體表面的接觸角。
亥姆霍茲自由能原理指出，在平衡狀態(tài)下，液體和固體之間的亥姆霍茲自由能最小。因此，當(dāng)液滴與固體表面達(dá)到平衡狀態(tài)時(shí)，系統(tǒng)的亥姆霍茲自由能將最小化。根據(jù)這個(gè)原理，可以得出液滴與固體表面的接觸角。
該科研級(jí)接觸角測(cè)量?jī)x已經(jīng)在多個(gè)微納米領(lǐng)域的研究實(shí)驗(yàn)中得到應(yīng)用，并取得了不錯(cuò)的效果。例如，在材料學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的相關(guān)研究中，該設(shè)備能夠幫助研究者更加準(zhǔn)確地掌握微米級(jí)和納米級(jí)材料的表面性質(zhì)和相互作用機(jī)制，為新材料開發(fā)、生物醫(yī)學(xué)等應(yīng)用提供技術(shù)支持。
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